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申请/专利权人：西安中核核仪器股份有限公司
摘要：本发明公开了一种非均匀放射性面源效率刻度修正方法，包括步骤：一、构建辐射探测器模型；二、模拟以标准面源中心为圆心的不同半径的圆环的探测效率，形成标准面源不同半径圆环面积所对应的探测效率数据表；三、实际非均匀放射性面源的图像采集，对非均匀放射性面源图像进行图像圆环式分割，确定非均匀放射性面源图像不同半径圆环有效面积；四、根据非均匀放射性面源图像不同半径圆环有效面积对应的权重因子对非均匀放射性面源效率刻度修正。本发明通过预先形成标准面源不同半径圆环面积所对应的探测效率数据表，后通过图像识别方式，根据每个圆环的权重因子来计算其所占的探测效率贡献值，最终实现了非均匀放射性面源的探测效率的刻度。
主权项：1.一种非均匀放射性面源效率刻度修正方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：步骤一、构建辐射探测器模型；步骤二、模拟以标准面源中心为圆心的不同半径的圆环的探测效率，形成标准面源不同半径圆环面积所对应的探测效率数据表；步骤三、实际非均匀放射性面源的图像采集，对非均匀放射性面源图像进行图像圆环式分割，确定非均匀放射性面源图像不同半径圆环有效面积；步骤四、根据非均匀放射性面源图像不同半径圆环有效面积对应的权重因子对非均匀放射性面源效率刻度修正。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 西安中核核仪器股份有限公司 一种非均匀放射性面源效率刻度修正方法
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