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一种三维天线阵综合孔径辐射计成像校准方法、装置、存储介质及电子设备 

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申请/专利权人:中国电子科技集团公司第十研究所

摘要:本申请的实施例提供了一种三维天线阵综合孔径辐射计成像校准方法、装置、存储介质及电子设备,涉及成像领域,所述方法包括:根据所述三维天线阵的空间排布确定所述小天线阵元的位置坐标;基于所述三维天线阵的阵列参数和所述小天线阵元的位置坐标计算三维基线;基于所述三维天线阵的阵列构造校准靶板,并在所述校准靶板上安装两个点辐射源;基于所述三维基线计算得到所述两个点辐射源的视在函数;基于所述两个点辐射源的视在函数,构造校准矩阵;基于所述校准矩阵对获取到的二维视函数进行校准。本申请的技术方案,采用点辐射源作为校准源,可以精准的进行校准,且方法整体简单,便于实现。

主权项:1.一种三维天线阵综合孔径辐射计成像校准方法,所述三维天线阵包括多个小天线阵元,其特征在于,包括:根据所述三维天线阵的空间排布确定所述小天线阵元的位置坐标;基于所述三维天线阵的阵列参数和所述小天线阵元的位置坐标计算三维基线;基于所述三维天线阵的阵列构造校准靶板,并在所述校准靶板上安装两个点辐射源;基于所述三维基线计算得到所述两个点辐射源的视在函数;基于所述两个点辐射源的视在函数,构造校准矩阵;基于所述校准矩阵对获取到的二维视函数进行校准。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 中国电子科技集团公司第十研究所 一种三维天线阵综合孔径辐射计成像校准方法、装置、存储介质及电子设备

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