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申请/专利权人：中国科学技术大学
摘要：本发明公开了同时探测自旋流的直流和交流分量的同步辐射方法及装置，涉及光电探测技术领域，在电学测试样品台上放置待测双层膜样品；将微波时钟信号通过微波电子学部分处理后得到的高频微波信号输入到电学测试样品台，用于激发待测双层膜样品的磁性层产生GHz自旋进动；将同步辐射X光脉冲入射到待测双层膜样品中，以探测待测双层膜样品中铁磁层自旋进动的瞬时信号以及从铁磁层泵浦出的交流自旋流驱动非磁层自旋进动的瞬时信号；与此同时，利用电学响应测试系统测量待测磁性双层样品中的非磁层通过逆自旋霍尔效应把自旋流直流分量转换成的直流电压信号；该同步辐射方法及装置实现同时探测自旋流的直流分量和GHz交流分量。
主权项：1.同时探测自旋流的直流和交流分量的同步辐射方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤一、在电学响应测试系统的电学测试样品台上放置待测双层膜样品，所述电学测试样品台包括PCB板以及嵌入PCB板中的打孔波导，所述待测双层膜样品与设置于PCB板上的电学接口通过引线连接，电学接口通过引线连接到电学响应测试系统的测试与调控系统中，所述待测双层膜样品为包含不同元素的铁磁层和非磁层组成的双层膜结构；步骤二、将同步辐射加速器装置接出的微波时钟信号通过具有倍频增益相位延迟功能的微波电子学部分处理后得到高频微波信号，将高频微波信号输入到包括平面共振波导的电学测试样品台，用于激发待测双层膜样品产生GHz自旋进动；步骤三、利用集成GHz微波激发与X光探测的GHz高频自旋进动探测装置，将同步辐射加速器装置引出的同步辐射X光脉冲穿过平面共振波导的打孔处入射到待测双层膜样品中，以探测待测双层膜样品的铁磁层在共振场附近自旋进动的瞬时信号以及从铁磁层泵浦出的交流自旋流驱动非磁层自旋进动的瞬时信号；步骤四、与此同时，利用电学响应测试系统测量测双层膜样品的非磁层通过逆自旋霍尔效应把自旋流直流分量转换成的直流电压信号；步骤五、通过电学响应测试系统给待测双层膜样品施加不同的电学环境，从而得到待测双层膜样品在不同电学环境下自旋流的直流分量和GHz交流分量的探测结果。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国科学技术大学 同时探测自旋流的直流和交流分量的同步辐射方法及装置
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