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申请/专利权人：北京智芯微电子科技有限公司
摘要：本申请公开了一种集成多款芯片的操作系统测试方法、装置及系统，属于芯片测试技术领域。方法包括：接收用户在测试脚本的运行面板的输入数据；测试脚本用于针对至少具有部分相同的功能指令的多款不同芯片进行测试；根据输入数据选择测试的目标芯片；使用测试脚本采用目标命令参数集对目标芯片的操作系统进行测试。本申请通过为至少具有部分相同的功能指令的多款不同芯片建立相同的测试脚本，通过改变输入数据和命令参数对不同芯片进行测试，实现了单一的测试流程对多种芯片的集成测试，并且不同芯片之间还能够进行数据交互，通过修改命令参数的值即可不同命令参数的测试，无需针对每个命令参数测试编写代码，减少了代码冗余，提高了测试效率。
主权项：1.一种集成多款芯片的操作系统测试方法，其特征在于，包括：接收用户在测试脚本的运行面板的输入数据；所述测试脚本用于针对至少具有部分相同的功能指令的多款不同芯片进行测试；根据所述输入数据选择测试的目标芯片；使用所述测试脚本采用目标命令参数集对所述目标芯片的操作系统进行测试。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 北京智芯微电子科技有限公司 集成多款芯片的操作系统测试方法、装置及系统
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