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申请/专利权人：珅斯电子(上海)有限公司
摘要：本申请公开可用于检测大电流的多支路磁芯的霍尔电流传感器，所述可用于检测大电流的多支路磁芯的霍尔电流传感器包括电流检测构件，所述电流检测构件包括磁芯组件和至少两霍尔芯片，所述磁芯组件具有至少两通槽，具有至少两分流部的铜排以每一所述分流部插接于一所述通槽的方式安装于所述磁芯组件，每一所述霍尔芯片位于插接于对应所述通槽的所述分流部的外部且能够检测流经所述分流部的电流，各个所述分流部被检测以获得的电流值的总和即为通入所述铜排的电流值，所述磁芯组件的饱和磁通量大于流经对应的所述分流部的电流产生的磁通量而小于通入所述铜排的电流产生的磁通量，以使所述电流检测构件的尺寸尽可能小的同时还能检测大电流。
主权项：1.可用于检测大电流的多支路磁芯的霍尔电流传感器，其特征在于，所述可用于检测大电流的多支路磁芯的霍尔电流传感器包括：电流检测构件，所述电流检测构件包括磁芯组件和至少两霍尔芯片，所述磁芯组件具有至少两通槽和与所述通槽连通的槽口，每一所述霍尔芯片被设置于一所述通槽并由对应的所述通槽的所述槽口伸出，具有至少两分流部的铜排以每一所述分流部沿电流流动于所述铜排流动的方向插接于一所述通槽的方式安装于所述磁芯组件，每一所述霍尔芯片位于插接于对应所述通槽的所述分流部的外部且能够检测流经所述分流部的电流，各个所述分流部被对应的所述霍尔芯片检测以获得的电流值的总和即为通入所述铜排的电流值，所述磁芯组件形成所述通槽侧壁的部分在水平面上的截面和所述磁芯组件形成所述通槽底壁的部分在竖直面上的截面均具有预定尺寸，并将所述磁芯组件形成所述通槽侧壁的部分定义为磁体部，且所述磁芯组件的饱和磁通量大于流经对应的所述分流部的电流产生的磁通量而小于通入所述铜排的电流产生的磁通量。
全文数据：
权利要求：
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