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申请/专利权人：广东长兴半导体科技有限公司
摘要：本发明涉及芯片测试技术领域，具体涉及一种多用途芯片高速测试设备，包括机台；所述机台设有料盘传输机构、芯片传输机构以及测试机构；所述料盘传输机构包括沿纵向方向设置的料盘传输座；所述芯片传输机构包括吸附座、横移驱动组件、纵移驱动组件以及吸嘴；所述测试机构包括设于机台的测试板以及设于测试板的多个测试座。本发明通过设置料盘传输机构、芯片传输机构以及测试机构，装有多个芯片的料盘通过料盘传输机构传输至芯片传输机构的位置后，芯片传输机构将载板的芯片传输至测试机构的测试板的测试座上，从而能够对芯片进行自动化测试，并且能够一次性对多个芯片进行测试，大大地提高工作效率。
主权项：1.一种多用途芯片高速测试设备，其特征在于：包括机台；所述机台设有料盘传输机构、芯片传输机构以及测试机构；所述料盘传输机构包括沿纵向方向设置的料盘传输座；所述芯片传输机构包括吸附座、用于驱动吸附座横向移动的横移驱动组件、吸附座纵向移动的纵移驱动组件以及设于吸附座的吸嘴；所述测试机构包括设于机台的测试板以及设于测试板的多个测试座；所述料盘传输机构用于传输料盘；所述芯片传输机构用于将料盘的芯片传输至测试座。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 广东长兴半导体科技有限公司 一种多用途芯片高速测试设备
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