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申请/专利权人：冠佳技术股份有限公司
摘要：本发明涉及电源老化测试技术领域，揭露一种AI电源串并联老化测试方法及系统，方法包括：利用第一双向DC‑DC与第二双向DC‑DC构建AI电源产品的老化测试平台；串联低压AI电源产品，连通串联托盘、老化测试平台及AC‑DC电源，得到串联老化测试系统；对串联老化测试系统进行系统初始化，得到串联初始化系统，开启串联初始化系统之后，采集低压AI电源产品输出的低压电源参数；并联高压AI电源产品，连通并联托盘、老化测试平台及AC‑DC电源；对并联老化测试系统进行系统初始化，得到并联初始化系统，开启并联初始化系统之后，采集高压AI电源产品输出的高压电源参数。本发明可以实现1.8V以上的电源进行并联老化测试，低压1.8V以下进行串联老化测试。
主权项：1.一种AI电源串并联老化测试方法，其特征在于，所述方法包括：基于AI电源产品的电压值，将所述AI电源产品划分为低压AI电源产品与高压AI电源产品，并确定对所述AI电源产品进行AI电源串并联老化测试的系统组成，其中，所述系统组成包括产品托盘、第一双向DC-DC、第二双向DC-DC及AC-DC电源，利用所述第一双向DC-DC与所述第二双向DC-DC构建所述AI电源产品的老化测试平台；基于所述产品托盘，串联所述低压AI电源产品，得到串联托盘，连通所述串联托盘、所述老化测试平台及所述AC-DC电源，得到串联老化测试系统；对所述串联老化测试系统进行系统初始化，得到串联初始化系统，开启所述串联初始化系统之后，采集所述低压AI电源产品输出的低压电源参数，将所述低压电源参数作为所述低压AI电源产品的串联老化测试结果；基于所述产品托盘，并联所述高压AI电源产品，得到并联托盘，连通所述并联托盘、所述老化测试平台及所述AC-DC电源，得到并联老化测试系统；对所述并联老化测试系统进行系统初始化，得到并联初始化系统，开启所述并联初始化系统之后，采集所述高压AI电源产品输出的高压电源参数，将所述高压电源参数作为所述高压AI电源产品的并联老化测试结果；将所述串联老化测试结果与所述并联老化测试结果作为所述AI电源产品的串并联老化测试结果。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 冠佳技术股份有限公司 AI电源串并联老化测试方法及系统
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