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申请/专利权人：谱睿量子科技(山东)有限公司

摘要：本发明公开了一种气体成分吸收光谱测量方法及系统，第一测量装置向第二测量装置发射第一信号光，以及接收第二测量装置向第一测量装置发射的第二信号光并将第二信号光和第一信号光混合以发生干涉，得到第一混合光，第二测量装置接收第一测量装置发射的第一信号光并将第一信号光和第二信号光混合以发生干涉，得到第二混合光；获取第一混合光的频谱与第二混合光的频谱的相位差，从相位差中提取预设区域的气体成分吸收光谱，预设区域为第一测量装置和第二测量装置之间的空间区域。本发明将第一测量装置和第二测量装置分别处于预设区域的两端，根据两者测得的干涉光的频谱能够获得预设区域的气体成分吸收光谱，可以增大测量距离。

主权项：1.一种气体成分吸收光谱测量方法，其特征在于，包括：第一测量装置和第二测量装置分别处于预设区域的两端，第一测量装置和第二测量装置分别发射出信号光以及接收对方发射出的经过大气的信号光；第一测量装置向第二测量装置发射第一信号光，以及接收所述第二测量装置向所述第一测量装置发射的经过大气的第二信号光，并将接收到的所述第二信号光和所述第一信号光混合以发生干涉，得到第一混合光；第二测量装置向第一测量装置发射第二信号光，以及接收所述第一测量装置向所述第二测量装置发射的经过大气的第一信号光，并将接收到的所述第一信号光和所述第二信号光混合以发生干涉，得到第二混合光；第一测量装置和第二测量装置将接收到的经过大气的信号光与自身信号光进行干涉，根据两者测得的干涉光的频谱能够获得预设区域的气体成分吸收光谱，增大测量距离；第一测量装置发射出的第一信号光和第二测量装置发射出的第二信号光都是脉冲激光且两者的重频具有重频差，即第一测量装置发射出第一信号光的发射频率和第二测量装置发射出第二信号光的发射频率存在差异，使得第一测量装置接收到的第二信号光和自身的第一信号光混合能够发生干涉，第二测量装置接收到第一信号光和自身的第二信号光混合能够发生干涉；第一测量装置发射出的第一信号光或第二测量装置发射出的第二信号光是重频精准的短脉冲激光；获得所述第一混合光的频谱以及所述第二混合光的频谱；获取所述第一混合光的频谱与所述第二混合光的频谱的相位差，从所述相位差中提取预设区域的气体成分吸收光谱，所述预设区域为所述第一测量装置和所述第二测量装置之间的空间区域。

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