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龙图腾网恭喜中国科学院上海光学精密机械研究所申请的专利基于涡旋聚焦透镜的相位测量偏折术波前测量装置及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115014721B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-18发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210752786.7，技术领域涉及：G01M11/02；该发明授权基于涡旋聚焦透镜的相位测量偏折术波前测量装置及方法是由张秀平;李勇;奚蓉;潘雪娟;王驰;张艳丽;张军勇设计研发完成，并于2022-06-28向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于涡旋聚焦透镜的相位测量偏折术波前测量装置及方法在说明书摘要公布了：一种基于涡旋聚焦透镜的相位测量偏折术波前测量装置及方法，包括显示屏、涡旋聚焦透镜、旋转镜架、滤波小孔、聚焦透镜、待测物体、第一三维平移台、图像采集模块、第二三维平移台和计算机，本发明通过旋转涡旋聚焦透镜以获得具有不同相移的入射涡旋条纹光束，利用被测物体和探测系统靶面的物像关系，再利用图像采集模块记录入射涡旋条纹光束经过待测波前后的强度信息，从而结合多步相移算法、区域波前重构算法等实现待测波前的精确重建；本发明结构紧凑、成本低、操作简单、检测精度高，可避免使用价格昂贵的激光光源，可扩展波前测量装置的应用范围，可为相位测量偏折术的民用化、商业化之路提供新技术方案。

本发明授权基于涡旋聚焦透镜的相位测量偏折术波前测量装置及方法在权利要求书中公布了：1.一种基于涡旋聚焦透镜的相位测量偏折术波前测量装置，其特征在于，包括显示屏1、涡旋聚焦透镜2、供涡旋聚焦透镜2放置的旋转镜架3、滤波小孔4、聚焦透镜5、供待测物体6放置的第一三维平移台7、图像采集模块8、供图像采集模块8放置的第二三维平移台9和计算机10，所述的显示屏1和图像采集模块8的输出端分别与所述的计算机10的输入端连接；所述的涡旋聚焦透镜2、滤波小孔4和聚焦透镜5构成4f系统，且所述的滤波小孔4位于该4f系统的频谱面上；所述的显示屏1用于显示所述的计算机10生成的涡旋条纹光束，该涡旋条纹光束作为光源，依次经所述的涡旋聚焦透镜2和滤波小孔4后到达所述的聚焦透镜5，经该聚焦透镜5准直后的光束作为入射涡旋条纹光束，通过旋转所述的旋转镜架3，带动所述的涡旋聚焦透镜2，从而得到不同相移的入射涡旋条纹光束；所述的入射涡旋条纹光束经所述的待测物体6折射后，由所述的图像采集模块8采集，通过移动所述的第一三维平移台7和第二三维平移台9，使所述的图像采集模块8上出现所述的待测物体6的折射强度图，并传输至所述的计算机10。

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