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龙图腾网获悉中国科学院上海技术物理研究所申请的专利全谱段成像探测系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118999787B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-29发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202410991997.5，技术领域涉及：G01J3/28；该发明授权全谱段成像探测系统是由王跃明;吴寅;张东;张长兴;王晟玮;姚祎;刘军;韩贵丞;许晗;金家融设计研发完成，并于2024-07-23向国家知识产权局提交的专利申请。

本全谱段成像探测系统在说明书摘要公布了：本发明涉及光谱成像领域，提供一种全谱段成像探测系统，包括主镜、次镜、视场分离器、可见短波后光路系统、中长波后光路系统；可见短波后光路系统包括第一偏折镜、第二偏折镜、第三反射镜、第四反射镜以及第五反射镜；光依次经过主镜、次镜、第一偏转镜、第二偏转镜、第三反射镜、第四反射镜以及第五反射镜后进行可见短波波段成像；中长波后光路系统包括第三偏折镜、第四偏折镜、第六反射镜、第七反射镜以及第八反射镜；光依次经过主镜、次镜、第三偏转镜、第四偏折镜、第六反射镜、第七反射镜以及第八反射镜后进行中长波波段成像。用以解决现有技术中的星载大口径对地探测相机往往只能进行单一谱段的成像，不能满足高分辨率全谱段信息同步获取的缺陷，本申请的方案可以在一台载荷上完成全谱段的成像探测。

本发明授权全谱段成像探测系统在权利要求书中公布了：1.全谱段成像探测系统，其特征在于，包括：主镜、次镜、视场分离器、可见短波后光路系统、中长波后光路系统；入射光线通过所述主镜反射至所述次镜，经所述次镜反射后，光线通过所述视场分离器分离为可见短波通道和中长波通道，所述可见短波通道的光通过所述可见短波后光路系统进行成像，所述中长波通道的光通过所述中长波后光路系统进行成像；所述可见短波后光路系统包括第一偏折镜、第二偏折镜、第三反射镜、第四反射镜以及第五反射镜；所述第一偏折镜以及所述第二偏折镜与所述入射光线形成45°的夹角，用于将所述可见短波通道的光反射至所述第三反射镜，所述可见短波通道的光依次经过所述第三反射镜、第四反射镜以及所述第五反射镜后进行成像；所述第三反射镜的曲率半径R3满足：-1250毫米≤R3≤-1200毫米；所述第四反射镜的曲率半径R4满足：-620毫米≤R4≤-610毫米；所述第五反射镜的曲率半径R5满足：-650毫米≤R5≤-600毫米；所述中长波后光路系统包括第三偏折镜、第四偏折镜、第六反射镜、第七反射镜以及第八反射镜；所述第三偏折镜以及所述第四偏折镜与所述入射光线形成45°的夹角，用于将所述中长波通道的光反射至所述第六反射镜，所述中长波通道的光依次经过所述第六反射镜、第七反射镜以及所述第八反射镜后进行成像；所述第六反射镜的曲率半径R6满足：-250毫米≤R6≤-200毫米；所述第七反射镜的曲率半径R7满足：-100毫米≤R7≤-90毫米；所述第八反射镜的曲率半径R8满足：-120毫米≤R8≤-110毫米。

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