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一种碳化硅双脉冲低温测试低杂感装置 

申请/专利权人:忱芯电子(苏州)有限公司

申请日:2022-06-22

公开(公告)日:2022-10-14

公开(公告)号:CN115190726A

主分类号:H05K5/06

分类号:H05K5/06;H05K7/20;H05K1/02;G01R1/04;G01R31/26

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2022.11.01#实质审查的生效;2022.10.14#公开

摘要:本申请涉及一种碳化硅双脉冲低温测试低杂感装置,其包括冷却箱,冷却箱内设置有被测模块,冷却箱外对应被测模块的位置设置有密封板,密封板能够对冷却箱进行密封,密封板集成了驱动板和主功率连接板;密封板上驱动板对应被测模块设置;冷却箱外对应密封板的位置设置有热空气通道,热空气通道与密封板上表面相互抵接。本申请具有被测碳化硅模块即使再低温的环境下,被测主回路和信号回路还能保持低杂感。从而保证测试精度的效果。

主权项:1.一种碳化硅双脉冲低温测试低杂感装置,其特征在于:包括冷却箱1,冷却箱1内设置有被测模块14,冷却箱1外对应被测模块14的位置设置有密封板13,密封板13能够对冷却箱1进行密封,密封板13集成了驱动板和主功率连接板;密封板13上驱动板对应被测模块14设置;冷却箱1外对应密封板13的位置设置有热空气通道,热空气通道与密封板13上表面相互抵接。

全文数据:

权利要求:

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