申请/专利权人：常州锐奇精密测量技术有限公司

申请日：2023-06-19

公开（公告）日：2024-04-19

公开（公告）号：CN116817805B

主分类号：G01B15/02

分类号：G01B15/02;B05C11/10

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.04.19#授权;2023.10.24#实质审查的生效;2023.09.29#公开

摘要：本发明涉及极片测厚技术领域，具体公开了一种极片涂布边缘削薄及测量方法，所述方法包括：S1、设置X射线管、放射孔和准直板，且准直板上开设有准直孔；S2、规定准直孔为长方形孔，且设定准直孔的尺寸宽度范围为：0.5‑3mm和长度范围为：5‑20mm；S3、通过准直孔遮挡将X射线管内的X射线光斑转变为长方形光斑；S4、根据X射线测量原理采样长方形光斑的面密度，根据面密度转换厚度原理获得涂布极片边缘区域的削薄起始点和结束点；S5、确定涂布极片边缘区域的削薄起始点和结束点并通过边缘削薄算法获得削薄厚度值和长度值；本发明保证测量过程中缩小数据采集范围，提高空间分辨率；精确测量边缘削薄范围同时节约测量成本。

主权项：1.一种极片涂布边缘削薄及测量方法，其特征在于，所述方法包括：S1、设置X射线管1、放射孔2和准直板3，且准直板3上开设有准直孔4；S2、规定准直孔4为长方形孔，且设定准直孔4的尺寸宽度范围为：0.5-3mm和长度范围为：5-20mm；S3、通过准直孔4遮挡将X射线管1内的X射线光斑转变为长方形光斑；S4、根据X射线测量原理采样长方形光斑的面密度，根据面密度转换厚度原理获得涂布极片边缘区域的削薄起始点和结束点；所述X射线测量原理公式包括：I＝I0exp-λm 其中，I表示透过被测材料之后的射线强度，I0表示透过被测材料之前的射线强度；λ表示材料物质的吸收系数，并与材料物质的原子序数有强相关关系；m表示被测材料的面密度；所述面密度转换厚度原理：通过面密度仪测量出的面密度均值P；利用万分尺在极片上连续测点，测量出测厚仪扫描的同位置极片的厚度均值S；算出厚度对应面密度的系数K；S5、确定涂布极片边缘区域的削薄起始点和结束点并通过边缘削薄算法获得削薄厚度值和长度值；所述面密度和厚度转换系数公式：K＝PS面密度仪开始扫描时，根据公式计算得出整个幅宽以0.1mm的的一个点的厚度数据，形成1条厚度单次测量线；S＝P*K根据厚度毫米数据找到涂布极片边缘区域的削薄起始点和结束点，计算出边缘削薄厚度和长度；所述边缘削薄算法包括：单次测量线：由0.1-1mm一个数据点从箔材边缘到另一端边缘形成的线，削薄调用0.1mm数据计算；有效值绿框：测量数据根据目标值的分离比例进行剔除无效数据，平均值等于绿框内所有mm点的平均；涂层和基材交接处A1：基材到涂层第一个点即平均值乘以分离系数；削薄测量位置B1：削薄区开始测量的位置即A1加上削薄区厚度测量位置；削薄结束位置C1：从B1之后找到第一个削薄点即与平均值减去最小削薄值接近的点的位置；其中，削薄厚度：T＝YC1-YB1；削薄长度：L＝XC1-XB1，削薄厚度单位：μm，削薄长度单位：mm；YC1指Y轴上削薄结束位置C1的长度，YB1指Y轴上削薄测量位置B1的长度；XC1指X轴上削薄结束位置C1的长度，XB1指X轴上削薄测量位置B1的长度。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 常州锐奇精密测量技术有限公司 一种极片涂布边缘削薄及测量方法

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。

阅读全文 双屏查看 官方信息 专利公告 收藏专利 下载PDF 下载WORD