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申请/专利权人：常州市大成真空技术有限公司;深圳市大成精密设备股份有限公司
申请日：2023-12-01
公开（公告）日：2024-04-12
公开（公告）号：CN117870537A
主分类号：G01B11/00
分类号：G01B11/00;G01B21/08
优先权：
专利状态码：在审-实质审查的生效
法律状态：2024.04.30#实质审查的生效;2024.04.12#公开
摘要：一种电池极片削薄区的测量方法、系统以及存储介质，涉及电池极片技术领域，测量方法包括：获取标准片与待测极片的检测图像，获取标准片与待测极片的厚度数据；根据标准片对应的厚度数据与检测图像，将检测图像与厚度数据对齐，得到检测图像与厚度数据的对应关系；根据检测图像以及对应关系，得到厚度数据中待测极片的削薄区对应的厚度信息。本申请通过引入标准片，通过获取标准片与待测极片的检测图像以及厚度数据，可以根据检测图像以及厚度数据对齐，根据检测图像可以得到待测极片的待测边缘的位置，从而确定在厚度数据中的位置，以此获得削薄区精确的厚度信息，从而可以对削薄区进行分析。
主权项：1.一种电池极片削薄区的测量方法，其特征在于，包括：获取标准片与待测极片的检测图像，获取所述标准片与所述待测极片的厚度数据；所述标准片的参考边缘与所述待测极片的待测边缘平行；所述检测图像至少包括所述标准片以及所述待测极片的待测边缘对应的图像；根据所述标准片对应的厚度数据与检测图像，将所述检测图像与所述厚度数据对齐，得到所述检测图像与所述厚度数据的对应关系；根据所述检测图像以及所述对应关系，得到所述厚度数据中所述待测极片的削薄区对应的厚度信息。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 常州市大成真空技术有限公司;深圳市大成精密设备股份有限公司 电池极片削薄区的测量方法、系统以及存储介质
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