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【发明公布】用于控制测量装置的方法和测量装置_耐驰仪器制造有限公司_202410170995.X 

申请/专利权人:耐驰仪器制造有限公司

申请日:2024-02-06

公开(公告)日:2024-06-14

公开(公告)号:CN118197484A

主分类号:G16C60/00

分类号:G16C60/00;G06F16/22;G06F16/23

优先权:["20230321 DE 102023107051.7","20230321 US 63/453,488"]

专利状态码:在审-公开

法律状态:2024.06.14#公开

摘要:本发明涉及一种用于控制测量装置100的方法,包括:通过控制器110;200接收确定具体测量值的请求;通过所述控制器110;200建立待设定的所述测量装置的参数的参数列表,以便能够确定所述具体的测量值;以及通过所述控制器110;200将所建立的参数列表输出给测量装置100的用户。本发明进一步涉及一种测量装置100。

主权项:1.一种用于控制测量装置100的方法M,包括:通过控制器110;200接收M1确定具体测量值的请求;通过所述控制器110;200建立M2待设定的所述测量装置的参数的参数列表,以便能够确定所述具体的测量值;以及通过所述控制器110;200将所建立的参数列表输出M3给所述测量装置100的用户。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 耐驰仪器制造有限公司 用于控制测量装置的方法和测量装置

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