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申请/专利权人：西安电子科技大学
申请日：2024-02-02
公开（公告）日：2024-05-03
公开（公告）号：CN117973281A
主分类号：G06F30/3308
分类号：G06F30/3308;G06F30/367;G06F119/02;G06F119/14
优先权：
专利状态码：在审-实质审查的生效
法律状态：2024.05.21#实质审查的生效;2024.05.03#公开
摘要：本发明公开了一种针对集成电路NBTI失效的SPICE电路仿真方法，方法包括：先建立NBTI失效模型，再将NBTI失效模型转换为NBTI模块，并结合压控电压源构建等效电压源模块，利用等效电压源模块搭建工作电路，对未经失效注入的工作电路进行SPICE电路仿真，基于SPICE电路仿真结果提取反相器输出电压，根据反相器输出电压提取PMOS管NBTI应力剖面，最后将NBTI应力剖面加载到工作电路的等效电压源模块输入端，对经过失效注入的工作电路进行SPICE电路失效仿真，提取工作电路失效数据进行失效分析；本发明通过使用等效电压源模块，将阈值电压退化量加载到工作电路的PMOS管的栅极中，实现集成电路的NBTI失效仿真，具有仿真速度快，兼容性高的优点。
主权项：1.一种针对集成电路NBTI失效的SPICE电路仿真方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1、先建立NBTI失效模型，再将NBTI失效模型转换为NBTI模块，并结合压控电压源构建等效电压源模块；步骤2、利用步骤1构建的等效电压源模块搭建工作电路，对未经失效注入的工作电路进行SPICE电路仿真，基于SPICE电路仿真结果提取反相器输出电压，根据反相器输出电压提取PMOS管NBTI应力剖面；步骤3、将步骤2提取的NBTI应力剖面加载到工作电路的等效电压源模块输入端，对经过失效注入的工作电路进行SPICE电路失效仿真，提取工作电路失效数据进行失效分析。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 西安电子科技大学 一种针对集成电路NBTI失效的SPICE电路仿真方法
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