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申请/专利权人：韩国科学技术院
申请日：2023-11-03
公开（公告）日：2024-05-07
公开（公告）号：CN117997419A
主分类号：H04B7/22
分类号：H04B7/22;H04L27/12;H04W24/08;H04W4/029
优先权：["20221104 KR 10-2022-0146399","20230616 KR 10-2023-0077736"]
专利状态码：在审-实质审查的生效
法律状态：2024.05.24#实质审查的生效;2024.05.07#公开
摘要：本公开提供了用于基于毫米波频带的后向散射来执行位置测量的标签、询问器和系统。详细地，本公开提供了一种标签，该标签包括平面VanAtta阵列天线、连接到平面VanAtta阵列天线的频移键控FSK调制器、以及连接到FSK调制器的至少一个偏置电路，其中，FSK调制器被配置为基于由平面VanAtta阵列天线接收的询问信号，基于通过至少一个偏置电路供应的控制信号来调制询问信号，并且通过平面VanAtta阵列天线在询问信号被接收的方向上输出调制的询问信号。
主权项：1.一种用于基于毫米波频带的后向散射来执行位置测量的标签，所述标签包括：平面VanAtta阵列天线；频移键控FSK调制器，连接到所述平面VanAtta阵列天线；和至少一个偏置电路，连接到所述FSK调制器，其中，所述FSK调制器被配置为：基于由所述平面VanAtta阵列天线接收的询问信号，基于通过所述至少一个偏置电路供应的控制信号来调制所述询问信号；和通过所述平面VanAtta阵列天线在所述询问信号被接收的方向上输出所述调制的询问信号。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 韩国科学技术院 执行位置测量的标签、询问器和系统
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