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申请/专利权人：杭州广立微电子股份有限公司
摘要：本申请涉及一种E‑fuse熔断特性的测试电路、方法和系统，该测试电路包括选择电路、开关电路和多个焊盘；开关电路包括多个E‑fuse块和多个第一开关；E‑fuse块包括多个E‑fuse单元；选择电路的输入端连接地址信号和测试类型信号，选择电路根据地址信号和测试类型信号，控制开关电路选中目标E‑fuse单元，以及选择目标E‑fuse单元的工作模式；多个焊盘包括第三焊盘、第四焊盘、多个第一焊盘和多个第二焊盘；每个E‑fuse单元分别连接到第一焊盘和第二焊盘；同一个E‑fuse块中的E‑fuse单元都连接到相同的一对第一焊盘和第二焊盘，相邻两个E‑fuse块中的E‑fuse单元共享第一焊盘或者第二焊盘；E‑fuse单元包括E‑fuse，E‑fuse的一端通过第一开关连接到第三焊盘，另一端通过第一开关连接到第四焊盘。提高了电路的面积利用率。
主权项：1.一种E-fuse熔断特性的测试电路，其特征在于，所述测试电路包括选择电路、开关电路和多个焊盘；所述开关电路包括多个E-fuse块和多个第一开关；所述E-fuse块包括多个E-fuse单元；所述选择电路的输入端连接地址信号和测试类型信号，所述选择电路的输出端与所述开关电路的控制端连接，所述选择电路根据所述地址信号和所述测试类型信号，控制所述开关电路选中目标E-fuse单元，以及选择所述目标E-fuse单元的工作模式；所述多个焊盘包括第三焊盘、第四焊盘、多个第一焊盘和多个第二焊盘；每个所述E-fuse单元分别连接到所述第一焊盘和所述第二焊盘；同一个E-fuse块中的所述E-fuse单元都连接到相同的一对第一焊盘和第二焊盘，相邻两个E-fuse块中的所述E-fuse单元共享第一焊盘或者第二焊盘；所述E-fuse单元包括E-fuse，所有E-fuse单元中的E-fuse的一端通过第一开关连接到所述第三焊盘，另一端通过第一开关连接到所述第四焊盘。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 杭州广立微电子股份有限公司 一种E-fuse熔断特性的测试电路、方法和系统
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