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【发明公布】X射线CCD探测器本底测试方法_吉林大学_202410154632.7 

申请/专利权人:吉林大学

申请日:2024-02-04

公开(公告)日:2024-05-28

公开(公告)号:CN118090794A

主分类号:G01N23/223

分类号:G01N23/223;G01N23/2273;G01T1/36

优先权:

专利状态码:在审-实质审查的生效

法律状态:2024.06.14#实质审查的生效;2024.05.28#公开

摘要:本发明提出了一种X射线CCD探测器本底测试方法,其可以借助简单的硬件和软件设计方案,准确获取X射线CCD探测器的本底结果,由此提高测试仪器的灵敏度。

主权项:1.一种X射线CCD探测器本底测试方法,其包括以下步骤;将两个X射线CCD探测器面对面放置以相互形成反符合探测关系;利用无氧铜框架固定安装两个X射线CCD探测器;利用聚四氟乙烯及低本底铅对X射线CCD探测器进行屏蔽处理;使X射线CCD探测器处于预设的真空度和温度范围内;获取X射线CCD探测器采集的本底数据;根据本底数据得到本底能谱和计数率。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 吉林大学 X射线CCD探测器本底测试方法

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