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【发明授权】一种TLC最优读电压确定方法及装置_国创芯科技(江苏)有限公司_202311778934.3 

申请/专利权人:国创芯科技(江苏)有限公司

申请日:2023-12-22

公开(公告)日:2024-06-04

公开(公告)号:CN117594098B

主分类号:G11C16/08

分类号:G11C16/08;G11C16/26;G11C16/34

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.06.04#授权;2024.03.12#实质审查的生效;2024.02.23#公开

摘要:本发明属于数据存储技术领域,提供了一种TLC最优读电压确定方法及装置,其中方法包括:根据当前字线的7个读电压将字线划分为8个电压区间;依次用字线的其中一个读电压作为当前读电压对字线执行读操作;其中,读操作通过配置SLC读模式,或者level‑read模式实现;获取当前读电压读取到的字线的bit0个数和bit1个数;根据bit0个数和bit1个数,计算位于电压区间内被读为0的cell个数和被读为1的cell个数;确定当前读电压Vi和目标最优读电压Vir之间的存储单元相差数量;根据存储单元相差数量,确定当前读电压Vi移动至目标最优读电压Vir的方向和距离。本发明可以以很少的读取次数找到各电压区域的最优读电压,降低寻找和计算时间。

主权项:1.一种TLC最优读电压确定方法,其特征在于,包括:根据当前字线的7个读电压将字线划分为8个电压区间;依次用字线的其中一个读电压作为当前读电压对字线执行读操作;其中,读操作通过配置SLC读模式,或者level-read模式实现;获取当前读电压读取到的字线的bit0个数和bit1个数;根据bit0个数和bit1个数,计算位于电压区间内被读为0的cell个数和被读为1的cell个数;确定当前读电压Vi和目标最优读电压Vir之间的存储单元相差数量;根据存储单元相差数量,确定当前读电压Vi移动至目标最优读电压Vir的方向和距离;所述存储单元相差数量通过当前读电压Vi两侧相邻的理想最优读电压到区间内的存储单元数量计算获得, ,其中,和分别为区间内初始读电压Vi左侧和右侧的存储单元数量,i=1,2,…,7; ,,Nr为单个电压区间内的存储单元数量。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 国创芯科技(江苏)有限公司 一种TLC最优读电压确定方法及装置

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