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申请/专利权人：昆易电子科技(上海)有限公司
申请日：2023-03-17
公开（公告）日：2024-06-07
公开（公告）号：CN118159919A
主分类号：G05B19/042
分类号：G05B19/042
优先权：["20230306 CN 2023102146986"]
专利状态码：在审-公开
法律状态：2024.06.07#公开
摘要：一种测试系统，涉及测试技术领域。测试系统包括：工控机池、至少一个IO控制模块以及IO池；工控机池中包括多个工控机，IO池包括至少一个IO单元；IO控制模块用于在工控机池中的K个工控机与IO池中的L个IO单元之间传输目标数据；K、L均为大于或等于1的任意整数；IO单元用于在IO控制模块与被测件之间传输目标数据或基于目标数据而得到的数据。可以根据需求横向扩展工控机池中的工控机以及IO池中的IO单元，能够保障工控机和IO单元等资源的充分利用。
主权项：1.一种测试系统，其特征在于，所述测试系统为HIL系统，包括：工控机池、至少一个IO控制模块以及IO池；所述工控机池中包括多个工控机，所述IO池包括至少一个IO单元；所述IO控制模块用于在所述工控机池中的K个工控机与所述IO池中的L个IO单元之间传输目标数据；K、L均为大于或等于1的任意整数；所述IO单元用于在所述IO控制模块与被测件之间传输所述目标数据或基于所述目标数据而得到的数据。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 昆易电子科技(上海)有限公司 测试系统
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