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一种IO静态参数测试方法及系统 

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申请/专利权人:瑞芯微电子股份有限公司

摘要:本发明公开了一种IO静态参数测试方法及系统,选择电源通道,通过引线连接电源通道和待测芯片的待测IO口,并根据待测IO口为每一个待测芯片配置对应的IO寄存器配置表,因此仅需为每个芯片配置IO配置文件即可实现IO测试;控制IO测试板对待测IO口依次进行预设测试,根据预设测试的每一个测试项配置待测芯片的IO状态,并将测试项所需的供电数据发送至电源通道,从而为待测芯片供电,并使用电源通道中的采样电路采集待测IO口的参数,得到每个待测IO口在每个测试项中的静态参数,相较于现有技术中的专用IO测试机,仅需要为芯片配置对应的IO寄存器配置表和预设测试内容,开发成本低且提高了静态参数的测试效率。

主权项:1.一种IO静态参数测试方法,其特征在于,包括步骤:选择电源通道,通过引线连接所述电源通道和待测芯片的待测IO口,并配置每一个所述待测芯片的IO寄存器配置表,包括:配置不同GPIO状态配置结构体下每一个所述待测芯片的所有待测IO口的名称,以及在每一待测IO口后添加对应的寄存器地址和数据,得到所述待测芯片的IO寄存器配置表;根据所述IO寄存器配置表,通过预设通信方式配置待测芯片的寄存器;控制IO测试板对所述待测IO口依次进行预设测试,根据所述预设测试的每一个测试项配置所述待测芯片的IO状态,并将所述测试项所需的供电数据发送至所述电源通道;通过所述电源通道和所述供电数据为所述待测芯片供电,根据所述电源通道中的采样电路采集待测IO口的参数,得到每一个待测IO口在每一个测试项中的静态参数,包括:通过所述电源通道中的采样电路采集每个待测IO口上的电压和电流信息,并通过IO测试平台底板获取采集到的所述电压和电流信息,以及将采集到的所述电压和电流信息罗列至对应待测IO口的对应测试项中,得到每一个待测IO口在每一个测试项中的静态参数。

全文数据:

权利要求:

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