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申请/专利权人：中国科学院微电子研究所
申请日：2024-03-15
公开（公告）日：2024-06-07
公开（公告）号：CN118154662A
主分类号：G06T7/60
分类号：G06T7/60;G06T7/00
优先权：
专利状态码：在审-公开
法律状态：2024.06.07#公开
摘要：一种用于凸点高度测量的图像处理方法，包括：针对所述待处理图像，以按照预设规则确定的目标区域作为光条区域；其中，所述预设规则包括，以所述灰度值之和最大值对应的像素行作为起始像素行，对所述起始像素行的两侧像素行进行依次搜索，直至搜索到灰度值之和为满足预设条件的两个像素行，位于所述两个像素行之间的区域为所述目标区域；针对所述待处理图像中不包括所述光条区域的其他区域，以按照所述预设规则确定的目标区域作为光斑区域；确定所述光斑区域中的光斑以及所述光条区域中光条；根据所述光条和所述光斑确定所述待测物中凸点部分的高度。
主权项：1.一种用于凸点高度测量的图像处理方法，待处理图像为线结构光照射待测物体后，被待测物体反射得到的反射光形成，所述待测物包括平面部分和凸点部分，所述待处理图像包括光斑和光条，所述光斑根据来自所述凸点部分的反射光形成，所述光条根据来自所述平面部分的反射光形成，所述图像处理方法包括：针对所述待处理图像，以按照预设规则确定的目标区域作为光条区域；其中，所述预设规则包括，以所述灰度值之和最大值对应的像素行作为起始像素行，对所述起始像素行的两侧像素行进行依次搜索，直至搜索到灰度值之和为满足预设条件的两个像素行，位于所述两个像素行之间的区域为所述目标区域；针对所述待处理图像中不包括所述光条区域的其他区域，以按照所述预设规则确定的目标区域作为光斑区域；确定所述光斑区域中的光斑以及所述光条区域中光条；根据所述光条和所述光斑确定所述待测物中凸点部分的高度。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国科学院微电子研究所 一种用于凸点高度测量的图像处理方法
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