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Mura校正系统 

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申请/专利权人:硅工厂股份有限公司

摘要:Mura校正系统,其对通过拍摄显示面板而获得的检测图像中的Mura像素执行校正。Mura校正系统可以检测单个Mura像素并实现对所检测的一个Mura像素的校正,并且可以实现对Mura块的某一区域的Mura像素的基于块的校正。

主权项:1.一种Mura校正系统,包括:Mura校正装置,配置成接收检测图像,并且生成用于Mura像素的Mura像素校正数据,其中所述检测图像与显示面板的每个灰度级的测试图像对应;所述Mura校正装置包括:Mura块检测器,配置成基于所述显示面板的平均像素亮度值在各自包括多个像素的块之中检测具有所述Mura像素的Mura块,并且提供所述Mura块的位置值;Mura像素检测器,配置成接收所述Mura块的位置值,基于预设的参考值检测所述Mura块中的Mura像素,并提供所述Mura像素的位置值;以及第一系数生成器,所述第一系数生成器配置成接收所述Mura像素的位置值,生成Mura像素校正方程式的系数的系数值,并且生成包括所述Mura像素的位置值和所述Mura像素校正方程式的系数的系数值的Mura像素校正数据,其中所述Mura像素校正方程式为用于将所述Mura像素的每个灰度级的亮度值校正成所述显示面板的平均像素亮度值的二次方程式。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 硅工厂股份有限公司 Mura校正系统

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