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RC振荡器的自校准方法和自校准电路 

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申请/专利权人:上海华虹宏力半导体制造有限公司

摘要:本申请涉及半导体集成电路领域,具体涉及一种RC振荡器的自校准方法和自校准电路。其中,方法包括调节测试信号,使得RC振荡器产生具有目标输出频率的第一输出振荡信号;以第一参考振荡信号作为第一计数信号,测量第一输出振荡信号在第一计数周期中的振荡次数;确定第一输出振荡信号在第一计数周期中的振荡次数,是否位于输出信号振荡目标范围内;在第二环境下,获取第二参考振荡信号和第二输出振荡信号;以第二参考振荡信号作为第二计数信号,测量第二输出振荡信号在第二计数周期中的振荡次数;比较第二输出振荡信号在第二计数周期中的振荡次数,与第一输出振荡信号在第一计数周期中的振荡次数,是否一致;确定不一致,调整测试信号,直至一致。

主权项:1.一种RC振荡器自校准方法,其特征在于,包括以下步骤:在第一环境下,调节测试信号,使得所述测试信号为第一测试信号时,所述RC振荡器产生具有目标输出频率的第一输出振荡信号;在所述第一环境下,获取所述RC振荡器产生的第一参考振荡信号;以所述第一参考振荡信号作为第一计数信号,测量所述第一输出振荡信号在第一计数周期中的振荡次数;确定所述第一输出振荡信号在第一计数周期中的振荡次数,处于输出信号振荡目标范围内;在第二环境下,获取所述RC振荡器产生的第二参考振荡信号,和根据所述第一测试信号产生的第二输出振荡信号;以所述第二参考振荡信号作为第二计数信号,测量所述第二输出振荡信号在第二计数周期中的振荡次数;比较所述第二输出振荡信号在第二计数周期中的振荡次数,与所述第一输出振荡信号在第一计数周期中的振荡次数,是否一致;确定不一致,调整所述测试信号,直至使得所述第二输出振荡信号在第二计数周期中的振荡次数,与所述第一输出振荡信号在第一计数周期中的振荡次数一致。

全文数据:

权利要求:

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