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申请/专利权人：深圳市华讯方舟光电技术有限公司
摘要：本申请适用于计算机技术领域，提出一种样品仓、光谱检测系统、样品厚度测量方法及装置，样品仓包括相对的第一侧壁和第二侧壁；第一侧壁反射太赫兹波形成第一反射信号，透射太赫兹波形成第一透射信号；第二侧壁全反射第二透射信号，形成第二反射信号；待测样品的第一表面和第二表面分别反射第一透射信号形成第三反射信号和第四反射信号。由于太赫兹波在空气中的传播速度、第一侧壁和第二侧壁之间的距离均已知，因此通过样品仓测量出接收到第一反射信号和第三反射信号的时间差，以及接收到第二反射信号和第四反射信号的时间差，可以计算待测样品的厚度，能够实现对未知折射率样品的厚度进行测量。
主权项：1.一种样品仓，其特征在于，包括相对设置的第一侧壁和第二侧壁，所述第一侧壁和所述第二侧壁之间的空间用于放置待测样品；所述第一侧壁用于反射入射的太赫兹波形成第一反射信号，以及透射所述太赫兹波形成第一透射信号；所述第二侧壁用于全反射第二透射信号，形成第二反射信号；所述第二透射信号由所述第一透射信号透过所述待测样品形成；所述待测样品包括相对的第一表面和第二表面，所述第一表面和所述第二表面均与所述第一侧壁和所述第二侧壁平行；所述第一透射信号传输至所述第一表面发生反射形成第三反射信号，以及传输至所述第二表面发生反射形成第四反射信号；所述第一侧壁与所述第二侧壁之间的距离、所述第一反射信号、所述第二反射信号、所述第三反射信号以及所述第四反射信号用于计算所述待测样品的第一表面与第二表面之间的厚度；所述厚度通过样品厚度计算公式计算得到，所述样品厚度计算公式为： 其中，为所述厚度，为所述第一侧壁和所述第二侧壁之间的距离，为所述太赫兹波在所述第一侧壁的内表面和所述第一表面之间传输的第一时长，为所述太赫兹波在所述第二表面和所述第二侧壁的内表面之间传输的第二时长，为所述太赫兹波在空气中传输的速度，为所述太赫兹波的入射角。
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百度查询： 深圳市华讯方舟光电技术有限公司 样品仓、光谱检测系统、样品厚度测量方法及装置
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