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申请/专利权人：中国海洋大学
申请日：2024-03-18
公开（公告）日：2024-06-18
公开（公告）号：CN118207853A
主分类号：E02D1/00
分类号：E02D1/00;G01L11/00
优先权：
专利状态码：在审-公开
法律状态：2024.06.18#公开
摘要：本发明公开了一种考虑率效应的海洋自落式触探装置及率效应计算方法，其属于海洋岩土勘察技术领域，海洋自落式触探装置包括探头、探杆、配重组件和耐压舱，探头包括用于测量锥尖阻力的锥尖阻力传感器；第一剪切测量组件设置于探杆的第一位置处，第一剪切测量组件包括第一阻力传感器，用于检测第一位置受到的侧摩阻力；第二剪切测量组件设置于所述探杆的第二位置处，第二位置位于第一位置的上方，第二剪切测量组件包括第二阻力传感器，用于检测第二位置受到的侧摩阻力；第一压力传感器设置于耐压舱，用于检测海水压力。率效应计算方法采用上述的考虑率效应的海洋自落式触探装置，用率效应因子修正锥尖阻力，提高测量结果的准确性。
主权项：1.一种考虑率效应的海洋自落式触探装置，其特征在于，包括自下至上依次设置的探头10、探杆20、配重组件30和耐压舱40，所述探头10包括锥尖本体11、套筒本体12和锥尖阻力传感器，所述锥尖本体11设置于所述套筒本体12底部，所述套筒本体12与所述探杆20连接，所述锥尖阻力传感器设置于所述锥尖内且用于测量锥尖阻力；所述海洋自落式触探装置还包括：第一剪切测量组件50，设置于所述探杆20的第一位置处，所述第一剪切测量组件50包括第一阻力传感器51，所述第一阻力传感器51用于检测所述第一位置受到的侧摩阻力；第二剪切测量组件60，设置于所述探杆20的第二位置处，所述第二位置位于所述第一位置的上方，所述第二剪切测量组件60包括第二阻力传感器61，所述第二阻力传感器61用于检测所述第二位置受到的侧摩阻力；第一压力传感器，设置于所述耐压舱40，所述第一压力传感器用于检测海水压力。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国海洋大学 考虑率效应的海洋自落式触探装置及率效应计算方法
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