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申请/专利权人：华南理工大学
摘要：本发明公开了一种基于分子量子位章动频率的角度测量方法，所述方法包括：对于含有磁不等位的各向异性自旋的分子量子位，通过脉冲电子顺磁共振测试其单晶样品在某一取向下多个磁不等位自旋的章动频率，基于章动频率与各向异性张量的取向之间的数学关系以及自旋的张量坐标系与晶体坐标系的相对位置关系，求解晶体的摆放角度并进行误差检验。采用本方法测量晶体样品在电子顺磁共振实验中的取向不依赖于磁场扫描，具有快速、准确的特点。另外，通过本方法验证的样品可以作为高精度测角探针加以应用。
主权项：1.一种基于分子量子位章动频率的角度测量方法，其特征在于：包括以下步骤：1对含有磁不等位自旋的化合物粉末样品进行连续波电子顺磁共振测试，确定所述分子具有各向异性的电子结构；2导出符合要求的分子自旋的章动频率与各向异性张量的取向之间的数学关系；3确定符合要求的化合物中自旋的张量坐标系与晶体坐标系的相对位置关系；4通过脉冲电子顺磁共振测试所述化合物的单晶样品在某一摆放角度下的章动频率，基于多个磁不等位自旋不同的章动频率，依据所述数学关系和相对位置关系求出晶体的摆放角度并进行误差检验。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 华南理工大学 一种基于分子量子位章动频率的角度测量方法
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