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一种基于微通道板的中子成像探测器及其探测方法 

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申请/专利权人:中国科学院西安光学精密机械研究所

摘要:本发明涉及一种中子成像探测器,尤其是一种基于微通道板的中子成像探测器及其探测方法。克服现有探测器无法实现较高探测效率、探测空间分辨率较低的问题。本发明将中子与中子敏感元素相互作用的位置放在进入微通道板之前,以含量约100%的中子捕获膜层迎接中子入射。这种结构下,入射的每个中子都会与中子敏感元素反应,增加中子与中子敏感元素的反应概率,实现较高探测效率。更为重要的是中子与中子敏感元素相互作用的位置相对较统一,可以达到较高的探测空间分辨率。同时,通过对中子捕获膜层结构设计,能兼顾大概率的中子捕获和二次带电粒子的逃逸。

主权项:1.一种基于微通道板的中子成像探测器,其特征在于:包括依次设置的窗口层1、微通道板层3和位敏阳极层4;所述窗口层1的下表面刻蚀有微纳结构21,在微纳结构21表面镀有中子捕获膜层2;所述微通道板层3位于窗口层1下方,且微通道板层3的上表面与中子捕获膜层2接触;定义窗口层1上中子首先到达的表面为上表面,后到达的表面为下表面,微通道板层3中带电粒子首先到达的表面为上表面;所述位敏阳极层4位于微通道板层3下方;所述窗口层1用于抑制除中子以外的粒子与伽马射线进入中子捕获膜层2;所述中子捕获膜层2用于捕获进入其中的中子,并与中子发生核反应产生带电粒子;所述微通道板层3用于接收逃逸出中子捕获膜层2的带电粒子,并转化成电子,对电子实现倍增,出射电子云团;所述位敏阳极层4用于接收微通道板层3出射的电子云团,将电子云团转化为电压脉冲信号输出。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 中国科学院西安光学精密机械研究所 一种基于微通道板的中子成像探测器及其探测方法

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