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申请/专利权人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
摘要：本申请涉及一种功率器件短路瞬态结温测试方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：控制拍摄设备的工作时间点早于或等于待测功率器件发生短路的时间点；在所述待测功率器件发生短路的情况下，通过所述拍摄设备拍摄多张所述待测功率器件的表面图像；根据拍摄得到的多张表面图像，确定所述待测功率器件在发生短路的情况下，所述待测功率器件的表面在不同时刻对应的反射率；获取预设的映射关系，所述映射关系表征所述待测功率器件表面的反射率与温度之间的关联关系；基于不同时刻对应的反射率和所述预设的映射关系，生成所述待测功率器件处于短路状态时的结温热成像。采用本方法能够提高测试的准确性。
主权项：1.一种功率器件短路瞬态结温测试方法，其特征在于，所述方法包括：控制拍摄设备的工作时间点早于或等于待测功率器件发生短路的时间点，且拍摄设备的工作时长大于等于待测功率器件的短路时长；所述拍摄设备包括光源和相机；在所述待测功率器件发生短路的情况下，通过所述拍摄设备拍摄多张所述待测功率器件的表面图像；所述表面图像包括非短路期间的图像和短路期间的图像；根据拍摄得到的多张表面图像，确定所述待测功率器件在发生短路的情况下，所述待测功率器件的表面在不同时刻对应的反射光谱数据，根据反射光谱数据，计算待测功率器件表面的反射率；获取预设的映射关系，所述映射关系表征所述待测功率器件表面的反射率与温度之间的关联关系；所述映射关系反映了待测功率器件表面反射率随温度变化曲线，曲线斜率为反射率与温度之间系数；基于不同时刻对应的反射率和所述预设的映射关系，确定在不同时刻下所述待测功率器件表面的温度；针对每个时刻，基于所针对时刻下所述待测功率器件表面的温度，生成所针对时刻下所述待测功率器件的热成像帧；将温度突变处对应的热成像帧，或者温度大于预设温度阈值的热成像帧，确定为短路期间的热成像帧；基于所述短路期间的热成像帧，生成所述待测功率处于短路状态时对应的结温热成像。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室)) 功率器件短路瞬态结温测试方法、装置、设备和存储介质
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