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【发明授权】一种耐压测试漏电流采集电路_中山市优胜电子科技有限公司_202011503349.9 

申请/专利权人:中山市优胜电子科技有限公司

申请日:2020-12-18

公开(公告)日:2024-06-18

公开(公告)号:CN112505514B

主分类号:G01R31/14

分类号:G01R31/14;G01R31/52

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.06.18#授权;2021.04.02#实质审查的生效;2021.03.16#公开

摘要:本发明涉及耐压测试技术领域,具体涉及一种耐压测试漏电流采集电路,它包括主控制电路、分控制电路一、分控制电路二、分控制电路三、分控制电路四、分控制电路五、分控制电路六、分控制电路七;所述主控制电路通过导线分别与分控制电路一、分控制电路二、分控制电路三、分控制电路四、分控制电路五、分控制电路六、分控制电路七相连;它可检测500‑5000V正弦交流电压的电流及漏电流,能应用到对需要耐压检测的产品和设备上;它具有稳定性好、响应速度快等特点。

主权项:1.一种耐压测试漏电流采集电路,其特征在于:它包括主控制电路、分控制电路一、分控制电路二、分控制电路三、分控制电路四、分控制电路五、分控制电路六、分控制电路七;所述主控制电路通过导线分别与分控制电路一、分控制电路二、分控制电路三、分控制电路四、分控制电路五、分控制电路六、分控制电路七相连;所述主控制电路包括U1单元,U1单元是型号为SC92F7252M20的单片机,U1单元的第1、2脚并联在电容C3两端,电容C3与电容CE5并联,电容CE5的一端接+5V端,电容CE5另一端接地;U1单元的第5-8脚分别与TCK端、TDIO端、OUT端、WINOUOT端相连;U1单元的第9脚与电阻R6串联,电阻R6的另一端接SRT端;电阻R15一端并联在电阻R16一端上,电阻R15另一端接+5V端;电容C8一端并联在电阻R16一端上,电容C8另一端接地;U1单元的第15-20脚分别与10mA、5mA、3mA、2mA、1mA、0.5mA端相连;U1单元的第10脚与ADIN端相连,电容C7一端与U1单元的第10脚并联,电容C7另一端接地;所述分控制电路一包括串口J1,串口J1的第3-8端分别与10mA、5mA、3mA、2mA、1mA、0.5mA端相连;所述分控制电路二包括接插件P3,接插件P3的第1脚接+5V端;所述接插件P3的2、4脚分别接TDIO端、TCK端;所述接插件P3的第2脚接地;所述分控制电路三包括升压变压器,升压变压器的HV1_L端接高压棒,升压变压器的HV1_N端与电阻RX串联后与串口J2的第3脚相连;二极管D1并联在串口J2的第3、1脚之间;电阻R13与二极管D2串联后并联在串口J2的第3、1脚之间;电容C6并联在电阻R13两端;电阻R14并联在电阻R13、电容CE3之间;电容CE3与电阻RW1串联后一端与串口J2的第1脚并联,电阻RW1另一端接地;所述分控制电路四包括双向二极管DB1,双向二极管DB1的第1脚接AC15VL端,AC15VL端与串口J3的第3脚相连;双向二极管DB1的第4脚接地;双向二极管DB1的第3脚与串口J3的第1脚相连;双向二极管DB1的第2脚与电阻R2、可调电阻VR1串联后与+5V端相连;电容CE1、电容C1并联在双向二极管DB1的第2脚、导线二上;电阻R1、发光二极管LED1串联后并联在双向二极管DB1的第2脚、导线二上;可调电阻VR1的GND端并联在导线二上;电容CE2、C2并联在可调电阻VR1、导线二上;所述分控制电路五包括光耦OC2的负极与电阻R7串联,电阻R7的另一端接+20V端;光耦OC2的正极与发光二极管LED2、电阻R6串联,发光二极管LED2、电阻R6串联后与电阻R7并联;三极管Q2的基极与电阻R8串联后与OUT端相连;三极管Q2的发射极接地,集电极并联在光耦OC2的正极;光耦OC2的发射极与电阻R10、R9串联,电阻R9的另一端与TRA1端相连;光耦OC2的集电极与双向可控硅Q1的控制极相连,双向可控硅Q1的第一阳极与TRA2端相连,双向可控硅Q1的第二阳极与电阻R9并联;所述分控制电路六包括光耦OC1,光耦OC1的集电极、发射极分别与WIN_B端、WIN_A端相连;光耦OC1的正极与三极管Q3的集电极相连,三极管Q3遥发射极接地,三极管Q3的基极与电阻R5串联后与WINOUT端相连;光耦OC1的负极与电阻R4串联后与+20V端相连;电阻R3、发光二极管LED3串联后并联在电阻R4、三极管Q3的集电极之间;所述分控制电路七包括串口J4,串口J4的第1、3、6、8、10脚分别与TRA2端、TRA1端、WIN_B端、WIN_A端、SRT端相连;串口J4的第12脚接地。

全文数据:

权利要求:

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