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申请/专利权人：深圳精创半导体技术有限公司
申请日：2023-10-09
公开（公告）日：2024-06-18
公开（公告）号：CN221164808U
主分类号：B65G47/74
分类号：B65G47/74;B65G43/08;B65G47/90;B65G65/32;B65G47/82;B07C5/34;B07C5/36;B07C5/38
优先权：
专利状态码：有效-授权
法律状态：2024.06.18#授权
摘要：本实用新型提供了一种高精度智能检测系统，其包括上料机构、移载机构、下料机构及控制机构，移载机构包括第一载台、第一传输组件、第二载台及第二传输组件，第一传输组件用于将物料运送至第一检测工位，第一传输组件包括第一X轴直线模组及第一Y轴直线模组，第二传输组件用于将物料运送至第二检测工位，第二传输组件包括第二X轴直线模组及第二Y轴直线模组，所述第一X轴直线模组及第二X轴直线模组并排设置；两组传输机构及平台的组合可将待测物料运送至不同检测工位，多工位同时工作有效解决检测设备效率低的问题；通过搭配不同类型检测设备，多工位同时工作，可以全方位无死角对产品缺陷进行检测。
主权项：1.一种高精度智能检测系统，其特征在于，包括：移载机构，包括用于承载待测物料的第一载台、运送所述第一载台的第一传输组件、用于承载待测物料的第二载台及运送所述第二载台的第二传输组件，第一传输组件包括第一X轴直线模组及第一Y轴直线模组，第二传输组件包括第二X轴直线模组及第二Y轴直线模组，所述第一X轴直线模组及第二X轴直线模组在水平方向上并排设置；上料机构，用于将待测物料传送至第一载台及第二载台；下料机构，用于将待测物料从第一载台及第二载台移出；控制机构，所述控制机构分别电性连接所述上料机构、移载机构以及下料机构，用于对所述上料机构、移载机构以及下料机构进行实时控制。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 深圳精创半导体技术有限公司 高精度智能检测系统
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