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【发明公布】一种基于光谱分析的三维尺寸测量通用型控制器_中南大学_202410314675.7 

申请/专利权人:中南大学

申请日:2024-03-19

公开(公告)日:2024-06-21

公开(公告)号:CN118224995A

主分类号:G01B11/24

分类号:G01B11/24

优先权:

专利状态码:在审-公开

法律状态:2024.06.21#公开

摘要:本发明提出了一种基于光谱分析的三维尺寸测量通用型控制器,控制器内部分为用户操作层、设备驱动层、数据处理层、算法分析层,控制器可通过用户操作层实现控制指令处理,通过设备驱动层实现各类光谱分析测量装置的统一接入,通过数据处理层和算法分析层实现针对光谱分析方法的图像测量数据处理过程,本发明的通用型控制器与光谱分析测量设备组合成测控装置,对于各类光谱分析测量设备具有可靠的通用性,在各类工业应用场合中具有良好的扩展性。

主权项:1.一种基于光谱分析的三维尺寸测量通用型控制器,其特征在于,包括用户操作层、设备驱动层、数据处理层和算法分析层;所述用户操作层实现控制器内部指令处理和对外控制指令输出,提供统一操作标准;所述设备驱动层用于为不同类型的光谱分析三维尺寸测量设备提供统一的接入标准;所述数据处理层用于针对光谱分析类三维尺寸测量设备实现标准化的数据处理过程;所述算法分析层用于提供实现用户自定义算法分析的平台架构,实现测量数据的输出。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 中南大学 一种基于光谱分析的三维尺寸测量通用型控制器

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