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申请/专利权人：中国科学院光电技术研究所
申请日：2024-03-29
公开（公告）日：2024-06-21
公开（公告）号：CN118229816A
主分类号：G06T11/00
分类号：G06T11/00
优先权：
专利状态码：在审-公开
法律状态：2024.06.21#公开
摘要：本发明公开了一种红外非均匀性图像仿真方法。该方法如下：对不同黑体温度范围下真实红外探测器非均匀性图像的响应曲线进行二次多项式拟合，使用平均绝对百分比误差和拟合优度对拟合效果进行评价，从而选择探测器的最大可拟合的温度范围。在此最大可拟合温度范围内，根据拟合得到的二次项系数和一次项系数的正态分布以及二者之间的皮尔逊相关系数来仿真此两个系数，使得仿真图像的非均匀性在宽温度范围内贴合真实图像。将拟合得到的常数项系数每列当作为一个正态分布，列与列之间的正态分布参数具有一定差异，仿真时按照此规律逐列构造常数项系数，使得仿真产生的图像在视觉上能够一定程度的还原真实图像的条纹图案。
主权项：1.一种红外非均匀性图像仿真方法，其特征在于：包含以下步骤：步骤一：对不同温度范围下尺寸为M×N的真实红外探测器非均匀性图像的响应曲线进行二次多项式拟合，使用平均绝对百分比误差和拟合优度对拟合效果进行评价，从而选择探测器的最大可拟合的温度范围；步骤二：对最大可拟合温度范围内非均匀性图像的响应曲线进行二次多项式拟合，求得二次项系数和一次项系数的正态分布参数、二次项系数和一次项系数之间的皮尔逊相关系数、常数项每列作为一个正态分布得到的N个均值的分布参数和N个方差的分布参数；步骤三：根据二次项系数和一次项系数的正态分布参数、以及二次项系数和一次项系数之间的皮尔逊相关系数来构造仿真探测器响应曲线的二次项系数和一次项系数；步骤四：根据常数项每列作为一个正态分布得到的N个均值的分布参数和N个方差的分布参数来构造仿真探测器响应曲线的常数项系数；步骤五：用构造好的二次项系数、一次项系数和常数项系数构造仿真探测器的响应曲线，产生任意温度下的仿真图像。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 中国科学院光电技术研究所 一种红外非均匀性图像仿真方法
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