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申请/专利权人：武汉华小攀计算科技有限公司
申请日：2024-05-14
公开（公告）日：2024-06-21
公开（公告）号：CN118227507A
主分类号：G06F11/36
分类号：G06F11/36;G06N3/0499;G06N3/084
优先权：
专利状态码：在审-公开
法律状态：2024.06.21#公开
摘要：本发明公开了一种信创设备适配性的测试方法及系统，方法步骤如下：S1、搭建平台模拟环境，并且将信创设备部署在平台模拟环境上；S2、将通过搭建的平台使信创设备在最大工作量状态下运行，计算出信创设备在该状态下的最大寿命，并建立模型；S3、根据建立的模型预测未来隐患类型并形成未来隐患相对应的隐患特征集合；S4、提取隐患特征信息特征词频阈值信息，对所述隐患特征信息进行关联分析，生成隐患关键要素信息；S5、根据生成隐患关键要素信息进行计算，得出信创设备适配性。本发明在现有技术只能测试兼容性的基础上，进一步的计算信创设备适配性，当适配性过低的时候，能及时进行止损，准确且有效的解决了适配性问题。
主权项：1.一种信创设备适配性的测试方法，其特征在于，包括如下步骤：S1、根据信创设备对应用户的本地运行环境搭建平台模拟环境，并且将信创设备部署在平台模拟环境上；S2、将通过搭建的平台使信创设备在最大工作量状态下运行，计算出信创设备在该状态下的最大寿命，并根据信创设备在最大工作量状态下运行的数据建立模型；S3、根据建立的模型预测未来隐患类型并形成未来隐患相对应的隐患特征集合；S4、提取隐患特征信息特征词频阈值信息，对所述隐患特征信息进行关联分析，生成隐患关键要素信息；S5、根据生成隐患关键要素信息进行计算，得出信创设备适配性。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 武汉华小攀计算科技有限公司 一种信创设备适配性的测试方法及系统
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