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【发明公布】用于高纯三氧化钼的溶解性检测方法及系统_辽宁天桥新材料科技股份有限公司_202410649450.7 

申请/专利权人:辽宁天桥新材料科技股份有限公司

申请日:2024-05-24

公开(公告)日:2024-06-21

公开(公告)号:CN118225721A

主分类号:G01N21/31

分类号:G01N21/31;G01N21/84

优先权:

专利状态码:在审-公开

法律状态:2024.06.21#公开

摘要:本申请涉及溶解性检测技术领域,具体涉及用于高纯三氧化钼的溶解性检测方法及系统,该方法包括:获取高纯三氧化钼溶解过程中各测量时刻的钼酸根离子浓度与反应液的浑浊度,得到测量浓度序列及浑浊度序列,确定各测量时刻的离子响应速率特征值;计算各测量时刻的离子响应趋势程度;进而确定各测量时刻的离子浓度水平强度;各测量时刻的溶解强度分别与所述离子浓度水平强度及离子响应趋势程度成正相关关系;确定各测量时刻的溶解性澄清特征指数,最终得到各测量时刻的强溶解性特征值;基于所有测量时刻的强溶解性特征值对高纯三氧化钼的溶解性进行检测。本申请提高了高纯三氧化钼进行溶解性检测的准确性。

主权项:1.用于高纯三氧化钼的溶解性检测方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:获取高纯三氧化钼溶解过程中各测量时刻的钼酸根离子浓度与反应液的浑浊度,得到测量浓度序列及浑浊度序列;基于测量浓度序列中钼酸根离子浓度的分布以及浓度差异确定各测量时刻的离子响应速率特征值;基于各测量时刻的离子响应速率特征值及钼酸根离子浓度变化情况确定各测量时刻的离子响应趋势程度;基于测量浓度序列中各钼酸根离子浓度将钼酸根离子浓度划分为高、低水平离子浓度集;基于高、低水平离子浓度集中的钼酸根离子浓度差异及高、低水平离子浓度集中元素个数差异确定各测量时刻的离子浓度水平强度;各测量时刻的溶解强度分别与所述离子浓度水平强度及离子响应趋势程度成正相关关系;基于浑浊度度变化序列中各浑浊度的波动特征确定各测量时刻的溶解性澄清特征指数;进而各测量时刻的强溶解性特征值分别与所述溶解强度和所述溶解性澄清特征指数成正相关关系;基于所有测量时刻的强溶解性特征值对高纯三氧化钼的溶解性进行检测。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 辽宁天桥新材料科技股份有限公司 用于高纯三氧化钼的溶解性检测方法及系统

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