申请/专利权人：上海卫星工程研究所

申请日：2022-01-18

公开（公告）日：2024-06-21

公开（公告）号：CN114547549B

主分类号：G06F17/18

分类号：G06F17/18

优先权：

专利状态码：有效-授权

法律状态：2024.06.21#授权;2022.06.14#实质审查的生效;2022.05.27#公开

摘要：本发明提供了一种基于低轨卫星轨道衰减的大气密度自主估算方法及系统，包括：步骤S1：获取有效的卫星飞行轨道圈计数；步骤S2：基于有效的卫星飞行轨道圈计数计算递推误差；步骤S3：计算每圈轨道高度衰减量；步骤S4：根据计算得到的卫星质量，当递推误差与每圈轨道高度衰减量相等时，对面质比偏差进行修正得到面质比修正系数，取均值获取最终修正系数均值；步骤S5：基于最终修正系数均值计算大气密度修正系数，当数据标识有效时，根据轨道圈计数增加，更新迭代每圈大气密度修正系数，得到气密度修正系数序列。

主权项：1.一种基于低轨卫星轨道衰减的大气密度自主估算方法，其特征在于，包括：步骤S1：获取有效的卫星飞行轨道圈计数；步骤S2：基于有效的卫星飞行轨道圈计数计算递推误差；步骤S3：计算每圈轨道高度衰减量；步骤S4：根据计算得到的卫星质量，当递推误差与每圈轨道高度衰减量相等时，对面质比偏差进行修正得到面质比修正系数，取均值获取最终修正系数均值；步骤S5：基于最终修正系数均值计算大气密度修正系数，当数据标识有效时，根据轨道圈计数增加，更新迭代每圈大气密度修正系数，得到气密度修正系数序列；所述步骤S1采用：计算卫星星下点纬度，根据星下点纬度变化，对卫星飞行轨迹圈进行计数，卫星过赤道且为升轨时，轨道圈计数增加，当圈卫星姿态异常或轨道调整时，则记当圈数据无效；所述步骤S2采用：根据初始轨道参数计算相对J2000.0的星上系统钟为当前t时刻的轨道参数，引入GPS拟平根定轨数据，比较同一时刻的轨道高度误差，得到递推误差，其中，num为轨道圈计数；所述步骤S3采用：计算每圈轨道高度衰减量； ；其中，表示每圈轨道衰减量；表示轨道周期时间；表示阻力系数；表示大气密度初值；表示卫星质量；表示迎风面积；表示由GPS得到轨道拟平根半长轴；表示引力常数；表示大气密度修正系数，表示面质比修正系数均值；所述步骤S4采用：利用理想气体状态方程及气体质量守恒方程得出卫星消耗燃料后卫星的质量；当递推误差数据有效时，，得到面质比修正系数，取均值得到最终修正系数；所述步骤S5采用： 其中，表示大气密度修正系数，初值为1；表示大气密度初值，通过地面进行上注；为轨道周期时间；为阻力系数；为面质比修正系数均值；为递推误差；num为轨道圈计数；为迎风面积；为引力常数；为GPS拟平根轨道半长轴；为卫星质量；当数据标识为有效时，根据轨道圈计数num增加，更新迭代每圈大气密度修正系数，估算t时刻大气密度为。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 上海卫星工程研究所 基于低轨卫星轨道衰减的大气密度自主估算方法及系统

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