申请/专利权人:江苏芯德半导体科技有限公司
申请日:2023-10-27
公开(公告)日:2024-06-21
公开(公告)号:CN221197771U
主分类号:F25D17/08
分类号:F25D17/08
优先权:
专利状态码:有效-授权
法律状态:2024.06.21#授权
摘要:本发明提供一种适用于测试机上测试板的降温装置,属于半导体封测技术领域,包括底座、吹气管和进气管接头;底座为长方体形状,长方体的内部为空心的,便于压缩气进入长方体内通往吹气管中,长方体相对的两个长边面具有一组螺纹孔,螺纹孔固定有吹气管,长方体的两个端面具有对穿式的固定孔,长方体的底面具有进气管接头;本发明利用测试头内的凹槽尺寸,设计吹气装置,利用吹气来实现对测试头上的测试板降温。
主权项:1.一种适用于测试机上测试板的降温装置,其特征在于:包括底座2、吹气管和进气管接头5;所述底座2为长方体形状,所述长方体的内部为空心设置,所述长方体相对的两个长边面具有一组螺纹孔,所述螺纹孔固定有吹气管,所述长方体的两个端面具有对穿式的固定孔6,所述长方体的底面具有进气管接头5。
全文数据:
权利要求:
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