申请/专利权人：北京航空航天大学

申请日：2024-04-23

公开（公告）日：2024-06-25

公开（公告）号：CN118243658A

主分类号：G01N21/3586

分类号：G01N21/3586;G01N21/01;G01N3/08;G01L1/24

优先权：

专利状态码：在审-公开

法律状态：2024.06.25#公开

摘要：本发明公开一种热障涂层内部残余应力无损检测方法，将热障涂层样品置于太赫兹时域光谱系统内，获取热障涂层样品的时域谱信号，将所得数据进行快速傅里叶变换，得到频域信息，用转换后的频域数据作图，得到样品的频率谱图。将热障涂层样品加热，待样品冷至室温时再次置于太赫兹时域光谱系统测试，重复此操作，得到高温热暴露不同时间过程中，频率谱特征峰位置随热暴露时间的变化情况。统计特征峰位置，监测特征峰位置变化量作图。对制备好的工字件涂层样品进行原位拉伸试验，记录样品太赫兹时域光谱的频谱特征峰位置变化趋势，探索热障涂层内部应力与频率谱之间的对应关系，实现采用太赫兹频率谱特征峰对涂层内部应力的无损表征。

主权项：1.一种热障涂层内部残余应力无损检测方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、准备太赫兹时域光谱系统及待检测的热障涂层样品，将所述热障涂层样品置于所述太赫兹时域光谱系统反射模块的待测位置处的样品台上；S2、调节所述太赫兹时域光谱系统反射模块的待测位置处的湿度至所需标准；S3、获取所述热障涂层样品的时域谱信号，将太赫兹波垂直照射到所述热障涂层样品表面的待测位置；S4、保存样品时域信号，经傅里叶转化后得到相应的频域信息；S5、取出所述热障涂层样品并置于管式炉中，以所需温度将所述热障涂层样品加热至所需时间，随后取出所述热障涂层样品并空冷至室温，再重复操作步骤S1至S4；S6、对所述热障涂层样品加热不同时间的频域信息以FrequencyTHz为横坐标，Amplitude为纵坐标绘制曲线图，提取每条曲线中的频率谱特征峰；S7、将原位拉伸台置于所述太赫兹时域光谱系统反射模块的待测位置处；S8、制备与所述热障涂层样品相同工艺、相同成分的工字件涂层样品，对制备好的所述工字件涂层样品以所需拉伸速率进行原位拉伸试验；S9、将所述工字件涂层样品从无外加应力状态开始施加拉伸应力；S10、记录所述工字件涂层样品同一位置拉伸应力跨越所需压力范围直至卸载的过程中，太赫兹时域光谱的时域谱数据；S11、保存样品时域信号，经傅里叶转化后得到相应的频域信息；S12、对所述工字件涂层样品受到不同拉伸应力时的频域信息以FrequencyTHz为横坐标，Amplitude为纵坐标绘制曲线图，提取每条曲线中的频率谱特征峰；S13、将拉伸应力进行换算，计算不同拉伸应力与频率谱特征峰之间的对应关系，从而实现采用太赫兹频率谱特征峰数值对不同服役状态下的所述工字件涂层样品内部残余应力大小的无损表征。

全文数据：

权利要求：

百度查询： 北京航空航天大学 一种热障涂层内部残余应力无损检测方法

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