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用于估计磁体位置的包括识别磁干扰的阶段的方法 

申请/专利权人:高级磁互作用公司(AMI)

申请日:2018-05-29

公开(公告)日:2024-06-25

公开(公告)号:CN110998569B

主分类号:G06F17/10

分类号:G06F17/10;G06F3/046

优先权:["20170531 FR 1754806"]

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.06.25#授权;2021.06.29#著录事项变更;2020.06.23#实质审查的生效;2020.04.10#公开

摘要:本发明涉及一种使用包括磁力计阵列的追踪设备来估计磁体2的位置的方法,该方法包括:确定与磁体相关的初始状态矢量的阶段;测量有用磁场的阶段;估计磁场的阶段;计算估计的磁场与测量的磁场之间的偏差的阶段;以及基于该偏差更新状态矢量的阶段。该方法还包括识别阶段,该识别阶段包括基于根据估计的磁场和测量的磁场而计算出的指示符来识别磁干扰的步骤。

主权项:1.一种用于通过追踪设备估计磁体的位置的方法,所述追踪设备包括能够测量磁场的磁力计的阵列,所述方法由处理器实现,包括以下阶段:o对于初始测量时刻,确定与所述磁体相关联的初始状态矢量,所述状态矢量包括表示磁体相对于磁力计阵列的位置的变量;o在磁体存在的情况下,在测量时刻,通过磁力计阵列测量有用磁场,其中所述有用磁场是通过从在所述测量时刻时测得的磁场减去在参考时刻时测得的磁场而获得的;o基于表示由所述磁体产生的磁场与磁体的状态矢量之间的关系的预定模型,根据在先前的测量时刻获得的状态矢量来估计由所述磁体产生的磁场;o通过估计的磁场与测量的有用磁场之间的差来计算偏差;o根据计算出的偏差更新所述状态矢量,从而允许获得在测量时刻的磁体的估计位置;o基于更新后的状态矢量,通过使测量时刻增加来重复测量、估计、偏差计算和更新阶段;其特征在于,所述方法还包括以下阶段:o在至少一个测量时刻,识别与磁体不同并且位于磁力计阵列附近的磁性干扰器,包括以下步骤:-根据差参数计算指示符,该差参数定义为基于所述预定模型根据磁体对于在先前的测量时刻获得的状态矢量或对于更新后的状态矢量产生的估计的磁场与在测量时刻测量的所述有用磁场之间的差的函数,其中,所述指示符等于差参数与分母项之比,所述分母项至少包括指示符的估计的磁场、指示符的测量的有用磁场,或者表示所述磁力计中的至少一个的偏差的至少一个预定常数;-将指示符与预定阈值进行比较,并且当指示符的值中的至少一个大于或等于阈值时,识别磁性干扰器。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 高级磁互作用公司(AMI) 用于估计磁体位置的包括识别磁干扰的阶段的方法

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