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一种检测赫尔-肖氏薄板中颗粒孔隙率的试验装置及方法 

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申请/专利权人:天津大学

摘要:本发明公开了一种检测赫尔‑肖氏薄板中颗粒孔隙率的试验装置,包括密封摄影棚、赫尔‑肖氏盛颗粒玻片架、无影灯、CCD相机和数据处理系统;赫尔‑肖氏盛颗粒玻片架上安装有N个赫尔‑肖氏盛颗粒玻片;N个赫尔‑肖氏盛颗粒玻片是厚度相同,但其中的颗粒试样的密实度不一样;无影灯设置在赫尔‑肖氏盛颗粒玻片架的正上方,CCD相机设置在赫尔‑肖氏盛颗粒玻片的正下方并通过通讯接口与数据处理系统相连;数据处理系统包括安装在一台计算机中的图像识别软件,用于接收、记录和处理来自于CCD相机的数据,并以图片的透光程度作为判别指标来辨别统一厚度薄颗粒层的孔隙率。本发明可用于检验赫尔‑肖氏薄板中干燥颗粒试样的密实程度及其均匀性。

主权项:1.一种检测赫尔-肖氏薄板中颗粒孔隙率的试验装置,包括一密封摄影棚5,在所述密封摄影棚5内设有光源、CCD相机3和一圆形的赫尔-肖氏盛颗粒玻片架1;其特征在于,所述赫尔-肖氏盛颗粒玻片架1顶部的板面上设有N个用于嵌装赫尔-肖氏盛颗粒玻片6的安装卡槽;每个安装卡槽中均嵌装有一个赫尔-肖氏盛颗粒玻片6;所述赫尔-肖氏盛颗粒玻片6包括盒体10,所述盒体10设有抽拉式的盖板9;所述光源采用无影灯2,所述无影灯2设置在所述赫尔-肖氏盛颗粒玻片架1的正上方,所述无影灯2的直径尺寸与所述赫尔-肖氏盛颗粒玻片架1的尺寸相符;所述CCD相机3设置在所述赫尔-肖氏盛颗粒玻片6的正下方,所述CCD相机3的镜头朝向所述赫尔-肖氏盛颗粒玻片6,所述CCD相机3通过通讯接口连接至一数据处理系统4;所述数据处理系统4包括安装在一台计算机中的图像识别软件,所述数据处理系统4接收、记录和处理来自于所述CCD相机3的数据。

全文数据:

权利要求:

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