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申请/专利权人：湖北工业大学
申请日：2022-08-12
公开（公告）日：2024-06-25
公开（公告）号：CN115451866B
主分类号：G01B11/25
分类号：G01B11/25;G06T17/00
优先权：
专利状态码：有效-授权
法律状态：2024.06.25#授权;2022.12.27#实质审查的生效;2022.12.09#公开
摘要：本发明在传统条纹投影三维测量技术的基础上，提出一种基于光场等效相机阵列模型，并结合光场相机进行高反光表面三维测量。本发明的光场等效相机阵列模型避免了光场相机繁琐的标定过程和复杂的标定结果，实现快速精确标定。本发明的基于光场等效相机阵列模型的高反光表面三维测量方法，有效解决高反光表面三维重建后信息丢失问题。
主权项：1.一种高反光表面三维测量方法，其特征在于，利用标定的光场相机对高反光表面进行多视角三维重建，从而得到不同视角下高反光表面的多方向点云信息，该光场相机看作由主相机和辅助相机组成的等效相机阵列，选择子孔径图像中的中心视角作为主相机的视角，辅助相机的成像看作是除中心视角下的其他视角的成像，将所有辅助相机的坐标系统一到主相机坐标系中；选择主相机下重建得到点云作为目标点云，其余辅助相机下重建得到点云作为辅助点云，将所有重建点云统一至主相机坐标系下，再将统一至主相机坐标系下的所有重建点云投影至XOY平面，得到投影图像后，通过连通域分析提取得到每个点云投影图像中缺失部分所在的像素位置和大小，确定对于目标点云具有修复意义的异视角点云信息，然后从异视角点云中提取互补点云，并拼接至目标点云的对应区域，以此对目标点云进行迭代修复，直至完全恢复因过度曝光而丢失的信息，实现对高反光表面物体进行完整三维测量工作。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 湖北工业大学 基于光场等效相机阵列模型的高反光表面三维测量方法
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