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使用平均化参考电压的存储器单元感测 

申请/专利权人:美光科技公司

申请日:2022-09-30

公开(公告)日:2024-06-25

公开(公告)号:CN115966225B

主分类号:G11C5/14

分类号:G11C5/14;G11C16/12;G11C16/34

优先权:["20211012 US 17/499,492"]

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.06.25#授权;2023.05.02#实质审查的生效;2023.04.14#公开

摘要:本申请案是针对使用平均化参考电压的存储器单元感测。存储器装置可产生特定于操作条件或特性的所述平均化参考电压。所述平均化参考电压因此可跟踪单元使用和单元特性的变化。所述存储器装置可通过将参考节点短接在一起以确定与所述参考节点相关联的平均值,以此产生所述平均化参考电压。所述参考节点可与码字相关联,所述码字可存储对应于所述参考节点的值。所述码字可为平衡或近似平衡的以包含相等或近似相等数量的不同逻辑值。

主权项:1.一种用于操作存储器的方法,其包括:将相应逻辑状态存储于多个存储器单元中的每一个处,其中所述多个存储器单元的所述逻辑状态满足所述多个存储器单元中存储第一逻辑状态的存储器单元的第一数量与所述多个存储器单元中存储第二逻辑状态的存储器单元的第二数量的阈值比率;针对所述多个存储器单元中的每一存储器单元,在各自与所述存储器单元相关联的相应第一节点处和相应第二节点处产生相应感测电压,其中每个感测电压表示相关联的所述存储器单元的所述相应逻辑状态;至少部分地基于将所述多个存储器单元的所述第二节点中的每一个耦合到所述第二节点中的每另一个,产生所述多个存储器单元的参考电压;和至少部分地基于所述参考电压和与第一存储器单元相关联的第一感测电压,确定所述多个存储器单元中的所述第一存储器单元的逻辑状态。

全文数据:

权利要求:

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