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存储器器件和用于形成存储器器件的方法 

申请/专利权人:长江存储科技有限责任公司

申请日:2022-12-26

公开(公告)日:2024-06-28

公开(公告)号:CN118265288A

主分类号:H10B12/00

分类号:H10B12/00

优先权:

专利状态码:在审-公开

法律状态:2024.06.28#公开

摘要:本文公开了存储器器件和用于形成存储器器件的方法。一种存储器器件,包括设置在第一半导体层的第一侧上的存储单元的阵列,以及设置在存储单元的阵列上的焊盘输出结构。存储单元中的每个存储单元包括:在第一方向上延伸的半导体主体,第一端子和第二端子形成在半导体主体的两端处,第一端子与第一半导体层的第一侧接触;在垂直于第一方向的第二方向上延伸的字线;以及在第二方向上延伸的板线。

主权项:1.一种存储器器件,包括:存储单元的阵列,所述存储单元的阵列设置在第一半导体层的第一侧上,其中,所述存储单元中的每个存储单元包括:半导体主体,所述半导体主体在第一方向上延伸,其中,第一端子和第二端子形成在所述半导体主体的两端处,所述第一端子与所述第一半导体层的所述第一侧接触;字线,所述字线在垂直于所述第一方向的第二方向上延伸;以及板线,所述板线在所述第二方向上延伸;以及焊盘输出结构,所述焊盘输出结构设置在所述存储单元的阵列上。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 长江存储科技有限责任公司 存储器器件和用于形成存储器器件的方法

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