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存储器装置、存储器装置测试方法和测试系统 

申请/专利权人:三星电子株式会社

申请日:2023-12-14

公开(公告)日:2024-06-28

公开(公告)号:CN118262780A

主分类号:G11C29/56

分类号:G11C29/56;G11C29/12;G11C29/14

优先权:["20221228 KR 10-2022-0187354"]

专利状态码:在审-公开

法律状态:2024.06.28#公开

摘要:公开存储器装置、存储器装置测试方法和测试系统。所述存储器装置包括:存储器单元阵列;时序电路,被配置为:生成第一时钟信号和第二时钟信号,第二时钟信号具有第一时钟信号的频率的i倍的频率;命令解码器,被配置为接收包括多个即时OTF位的OTF数据;接收器,被配置为接收输入数据,被配置为基于第一时钟信号对输入数据进行采样,并且被配置为基于采样的输入数据生成第一信号;解串器,被配置为基于所述第二时钟信号从第一信号生成第一解串行化信号;数据模式生成器,被配置为基于第二时钟信号根据第一解串行化信号和OTF数据生成模式信号;以及解码器,被配置为将模式信号发送到存储器单元阵列,其中,i是大于或等于2的自然数。

主权项:1.一种存储器装置,包括:存储器单元阵列;时序电路,被配置为:生成第一时钟信号和第二时钟信号,第二时钟信号具有第一时钟信号的频率的i倍的频率;命令解码器,被配置为接收包括多个即时OTF位的OTF数据;接收器,被配置为接收输入数据,被配置为基于第一时钟信号对输入数据进行采样,并且被配置为基于采样的输入数据生成第一信号;解串器,被配置为基于第二时钟信号从第一信号生成第一解串行化信号;数据模式生成器,被配置为:基于第二时钟信号根据第一解串行化信号和OTF数据来生成模式信号;以及解码器,被配置为将模式信号发送到存储器单元阵列,其中,i是大于或等于2的自然数。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 三星电子株式会社 存储器装置、存储器装置测试方法和测试系统

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