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样本检测装置 

申请/专利权人:爱威科技股份有限公司

申请日:2022-12-26

公开(公告)日:2024-06-28

公开(公告)号:CN118259038A

主分类号:G01N35/10

分类号:G01N35/10;G01N35/00

优先权:

专利状态码:在审-公开

法律状态:2024.06.28#公开

摘要:本申请涉及一种样本检测装置,样本检测装置包括:存储箱,具有沿第一方向相对设置的进口侧及出口侧,存储箱还包括多个沿与第一方向垂直的第二方向依次布设的存储格,每个存储格沿第一方向连通进口侧及出口侧;升降机构,与存储箱传动连接,升降机构用于驱动存储箱沿第二方向升降;推卡机构,位于存储箱的进口侧,并能够沿第一方向将检测卡由进口侧推送至存储格内,且能够沿第一方向将位于存储格内的检测卡由出口侧推出;以及检测机构,位于出口侧,并用于检测由出口侧推出的检测卡。本申请提供的样本检测装置结构简单,零部件较少的样本检测装置。

主权项:1.一种样本检测装置,其特征在于,所述样本检测装置包括:存储箱10,具有沿第一方向X相对设置的进口侧及出口侧,所述存储箱10还包括多个沿与所述第一方向X垂直的第二方向Y依次布设的存储格11,每个所述存储格11沿所述第一方向X连通所述进口侧及所述出口侧;升降机构20,与所述存储箱10传动连接,所述升降机构20用于驱动所述存储箱10沿所述第二方向Y升降;推卡机构30,位于所述存储箱10的进口侧,并能够沿所述第一方向X将检测卡2由所述进口侧推送至所述存储格11内,且能够沿所述第一方向X将位于所述存储格11内的所述检测卡2由所述出口侧推出;以及检测机构50,位于所述出口侧,并用于检测由所述出口侧推出的所述检测卡2。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 爱威科技股份有限公司 样本检测装置

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