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样本检测方法 

申请/专利权人:爱威科技股份有限公司

申请日:2022-12-26

公开(公告)日:2024-06-28

公开(公告)号:CN118259035A

主分类号:G01N35/04

分类号:G01N35/04

优先权:

专利状态码:在审-公开

法律状态:2024.06.28#公开

摘要:本申请涉及一种样本检测方法,样本检测方法包括:分送机构中的分送件沿第一方向运动并将位于分送位置的存储盒中的检测卡推送至入箱位置;分送位置及入箱位置均位于存储箱的进口侧,且在第一方向上分送位置位于入箱位置的上游;推卡机构中的推卡件沿第一方向运动并将检测卡由入箱位置推送至位于存储位置的存储箱内,且在第一方向上存储位置位于入箱位置的下游;其中,在检测卡由分送位置运动至存储位置的过程中,推卡件能够避让于分送件。本申请中提供的样本检测方法检测成本更低。

主权项:1.一种样本检测方法,其特征在于,所述样本检测方法由样本检测装置1执行,所述样本检测装置1包括存储箱10及输送机构,所述输送机构位于所述存储箱10的进口侧,且所述输送机构由分送机构40及推卡机构30组成;其中,所述样本检测方法包括:所述分送机构40中的分送件42沿第一方向X运动并将位于分送位置A的存储盒3中的检测卡2推送至入箱位置D;所述分送位置A及所述入箱位置D均位于所述存储箱10的进口侧,且在所述第一方向X上所述分送位置A位于所述入箱位置D的上游;所述推卡机构30中的推卡件32沿所述第一方向X运动并将所述检测卡2由所述入箱位置D推送至位于存储位置E的所述存储箱10内,且在所述第一方向X上所述存储位置E位于所述入箱位置D的下游;其中,在所述检测卡2由所述分送位置A运动至所述存储位置E的过程中,所述推卡件32能够避让于所述分送件42。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 爱威科技股份有限公司 样本检测方法

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