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一种荧光光谱分析稀土镁合金试样制备及检测方法 

申请/专利权人:本钢板材股份有限公司

申请日:2024-04-01

公开(公告)日:2024-06-28

公开(公告)号:CN118258837A

主分类号:G01N23/2202

分类号:G01N23/2202;G01N23/223;G01N1/28

优先权:

专利状态码:在审-公开

法律状态:2024.06.28#公开

摘要:本发明公开了一种荧光光谱分析稀土镁合金试样制备及检测方法,包括以下步骤:步骤一、制样:将磨碎过筛后的样品,进行再次研磨,细化混匀;步骤二、样片制作:硼酸打底压片制样;步骤三、样片检测:选用无标样分析稀土镁合金中多种元素,节约了检测用的原材料,降低了生产成本,提高了劳动生产率,以往多人的工作简化成了一个人完成,而且检测速度快,应用试剂少,改善了劳动的条件,降低了环境污染,同时拓展了检测范围,减少了试验用品尤其是标准样品的使用,同时作为一种扫描检测方法,为日后增加元素的检测数量打下基础。

主权项:1.一种荧光光谱分析稀土镁合金试样制备及检测方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤一、制样:将磨碎过筛后的样品,进行再次研磨,细化混匀;步骤二、样片制作:硼酸打底压片制样,在制样过程中添加淀粉作为粘结剂;步骤三、建立X射线荧光无标样法,并利用该方法对样片进行检测。

全文数据:

权利要求:

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