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一种基于方波热源的锁相热成像缺陷快速检测方法 

申请/专利权人:山东大学

申请日:2023-11-24

公开(公告)日:2024-06-28

公开(公告)号:CN117538378B

主分类号:G01N25/72

分类号:G01N25/72;G01J5/48

优先权:

专利状态码:有效-授权

法律状态:2024.06.28#授权;2024.03.01#实质审查的生效;2024.02.09#公开

摘要:本发明公开一种基于方波热源的锁相热成像缺陷快速检测方法,涉及缺陷检测技术领域。包括以下步骤:向被测设备施加方波热源,对被测设备周期性加热,进行锁相热成像,所述方波中包含多个频率下的谐波;获取加热过程中被测设备表面的温度信号,所述温度信号包含多个频率下的信息;基于温度信号得到被测设备表面各个像素点多个频率下的频域信息,对多个频率下的频域信息进行处理,从而通过一次锁相热成像快速得到缺陷深度。本发明通过一次锁相红外热成像即可获得多个频率下的检测结果,大大缩短锁相红外热成像测量缺陷深度所需要的时间。

主权项:1.一种基于方波热源的锁相热成像缺陷快速检测方法,其特征在于,包括以下步骤:向被测设备施加方波热源,对被测设备周期性加热,进行锁相热成像,所述方波中包含多个频率下的谐波;获取加热过程中被测设备表面的温度信号,所述温度信号包含多个频率下的信息;基于温度信号得到被测设备表面各个像素点多个频率下的频域信息,对多个频率下的频域信息进行处理,从而通过一次锁相热成像快速得到缺陷深度;所述方波的占空比根据锁相热成像中所需要的谐波频率范围来决定,不同占空比的方波的谐波种类不同;所述方波为低占空比方波;所述低占空比方波为占空比小于等于10%的方波,能提供更多频率谐波;在降低占空比以获得一系列谐波的同时,其谐波幅值也在降低,因此对于低占空比方波,采用更高的功率来提高谐波幅值,保证所需要的多种频率下的谐波幅值都能满足锁相热成像的信噪比要求。

全文数据:

权利要求:

百度查询: 山东大学 一种基于方波热源的锁相热成像缺陷快速检测方法

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