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申请/专利权人：吉斯坎公司
申请日：2019-03-04
公开（公告）日：2024-06-28
公开（公告）号：CN111801601B
主分类号：G01V5/00
分类号：G01V5/00;G01N23/20
优先权：["20180302 GB 1803426.4"]
专利状态码：有效-授权
法律状态：2024.06.28#授权;2021.03.16#实质审查的生效;2020.10.20#公开
摘要：一种对所关注的体积中的材料或物品进行检测和或识别的方法，包括：a用输入描迹仪对进入所关注的体积的带电粒子进行检测，b用输出描迹仪对离开所关注的体积的带电粒子进行检测，c将离开所关注的体积的粒子与进入所关注的体积的粒子相关联，并由此确定对于粒子而言的完整轨迹的集合，d基于粒子在完整轨迹的情况下的偏转来执行过滤，e基于穿过每个相应体素的已过滤的完整轨迹来计算体积密度映射，该映射表示完整轨迹的数量和或表示总散射角；以及f通过体积密度映射来检测和或识别所关注的体积中的材料或物品。
主权项：1.一种对所关注的体积中的材料或物品52进行检测和或识别的方法，所关注的所述体积包括多个体素，所述方法包括：a用输入描迹仪12、16对进入所关注的所述体积的带电粒子进行检测；b用输出描迹仪14、18对离开所关注的所述体积50的带电粒子进行检测；c将离开所关注的所述体积的粒子与进入所关注的所述体积的粒子相关联，并由此确定对于所述粒子而言的完整轨迹的集合；d基于所述粒子在完整轨迹的情况下在所述输入描迹仪和或在所述输出描迹仪中的偏转角来执行过滤；e通过使用穿过每个相应体素的已过滤的完整轨迹的反向投影来计算体积密度映射，所述体积密度映射表示完整轨迹的数量和或表示散射角；以及f通过所述体积密度映射来检测和或识别所关注的所述体积中的所述材料或物品，其中，在操作c、d和e中，所述完整轨迹的集合包括在特定偏转范围内具有相关联的偏转角的完整轨迹，并且其中，所述粒子是轻子，并且所述偏转角的一个或更多个范围被选择成使得电子和渺子至少部分地分离。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 吉斯坎公司 使用带电粒子检测和/或识别材料和物品的方法和装置
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