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申请/专利权人：武汉新通电力科技有限公司
申请日：2023-11-13
公开（公告）日：2024-06-28
公开（公告）号：CN221238887U
主分类号：G01N22/02
分类号：G01N22/02;B25B11/00
优先权：
专利状态码：有效-授权
法律状态：2024.06.28#授权
摘要：本实用新型涉及瓷绝缘子检测技术领域，且公开了一种瓷绝缘子缺陷微波检测支架，包括：固定架，固定架设置金具，金具通过螺栓固定检测件，固定架内设置移动装置，移动装置包括转盘，转盘连接轨道组件，轨道组件连接夹具，夹具用于夹持发射波导和接收波导，旋转转盘用于带动夹具上夹持的发射波导和接收波导同步旋转，转盘通过轴承转动连接有底座，轨道组件包括水平导轨与竖直导轨。该瓷绝缘子缺陷微波检测支架，将检测件固定在固定架上，再通过夹具夹紧发射波导和接收波导，旋转转盘，转盘带动导轨组件旋转，导轨组件带动夹具上夹持的发射波导和接收波导同步旋转，使得两个波导的旋转角度一致，从而提高检测精度。
主权项：1.一种瓷绝缘子缺陷微波检测支架，包括：固定架1，所述固定架1设置金具2，所述金具2通过螺栓固定检测件5，其特征在于：所述固定架1内设置移动装置3，所述移动装置3包括转盘32，所述转盘32连接轨道组件，所述轨道组件连接夹具35，所述夹具35用于夹持发射波导和接收波导；旋转所述转盘32用于带动所述夹具35上夹持的发射波导和接收波导同步旋转。
全文数据：
权利要求：
百度查询： 武汉新通电力科技有限公司 一种瓷绝缘子缺陷微波检测支架
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